• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2010 Fiscal Year Annual Research Report

走査型プローブ顕微鏡によるカーボンナノチューブトランジスタの電気特性の評価・解析

Research Project

Project/Area Number 09J07642
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

沖川 侑揮  名古屋大学, 工学研究科, 特別研究員(DC1)

Keywordsカーボンナノチューブ / 薄膜トランジスタ / 走査型プローブ顕微鏡 / モンテカルロシミュレーション / リングオシレータ / 中集積規模回路
Research Abstract

これまでの研究では、走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いてカーボンナノチューブトランジスタ(CNT-FET)の電気伝導特性の評価、解析を行ってきた。例えば、磁気力顕微鏡(MFM)や局所ゲート顕微鏡(SGM)などを用いる事で、個々のCNTにおいて電流量、伝導型、閾値が異なる事を明らかにした。本年度は、これまで培ったSPM技術を用いてネットワーク状に分散したCNTをチャネルとした薄膜トランジスタ(CNT-TFT)に対する電気伝導特性の解析・評価を行った。更にデバイス応用への指針を示すために、CNT-TFTの集積回路作製を試みた。
『SPMを用いたカーボンナノチューブ薄膜トランジスタの電気伝導特性の評価・解析』
グリッド挿入型プラズマCVD(PECVD)法で成長したCNTをチャネルに用いたCNT-TFTに対して、これまで培ってきたSPM技術(KFM,C-AFM,SGM)を用いて総合的に解析した。その結果、サブスレッショルド領域において、テラス状の電位分布像や島状の抵抗分布像が得られた。このことから、サブスレッショルド領域では、高いCNTの密度にも関わらず島状のチャネルが形成される事を示している。更に得られた結果を検証するために、SPICEを組み合わせたモンテカルロシミュレーションを行い、実験結果との比較を行った。
『PECVD法によるCNT-TFTの集積回路の実現』
これまでの研究において、PECVDを用いてCNT-TFTを作製し、高電流密度や電気伝導のバラつきが小さいCNT-TFTが得られている。このような結果から、108個のCNT-TFT(PECVD法でCNTを成長)から構成された53段Ring Oscillator回路を作製した。53段Ring Oscillatorを動作させたところ、遅延時間が0.51μsとこれまでの報告例と比較して2ケタ小さい高速動作を実証した。同時に中規模集積回路を実現した。

  • Research Products

    (9 results)

All 2011 2010

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (6 results)

  • [Journal Article] 走査型プローブ顕微鏡を用いたカーボンナノチューブ薄膜トランジスタの評価・解析2011

    • Author(s)
      沖川侑揮, 大野雄高, 岸本茂, 水谷孝
    • Journal Title

      信学技報(IEICE Technical Report)

      Volume: 110 Pages: 31-36

  • [Journal Article] Electrical properties of carbon nanotube thin-film transistors fabricated using plasma-enhanced chemical vapor deposition measured by scanning probe misroscopy2011

    • Author(s)
      Y.Okigawa, S.Kishimoto, Y.Ohno, T.Mizutani
    • Journal Title

      Nanotechnology

      Volume: 22 Pages: 195202-1-195202-7

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Medium Scale Integrated Circuits Using Carbon Nanotube Thin Film Transistors2010

    • Author(s)
      T.Mizutani, Y.Okigawa, Y.Ono S.Kishimoto, Y, Ohno
    • Journal Title

      Applied Physics Express

      Volume: 3 Pages: 115101-1-115101-3

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 金属CNT中の欠陥に起因する障壁の高さの見積もり2011

    • Author(s)
      沖川侑揮, 他
    • Organizer
      2011年春季第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      2011-03-27
  • [Presentation] PECVDを用いたCNT薄膜トランジスタの集積回路の実現2011

    • Author(s)
      沖川侑揮, 他
    • Organizer
      2011年春季第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      2011-03-26
  • [Presentation] Characterization of carbon nanotube network channel for thin film transistors by scanning probe microscopy2010

    • Author(s)
      Y.Okigawa, et al
    • Organizer
      The International Chemical Congress of Pacific Basin Societies
    • Place of Presentation
      Convention Center, Honolulu U.S.A
    • Year and Date
      2010-12-17
  • [Presentation] Characterization of Carbon Nanotube Thin Film Transistors by Scanning Probe Microscopy2010

    • Author(s)
      Y.Okigawa, et al
    • Organizer
      2010 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • Place of Presentation
      Tokyo University
    • Year and Date
      2010-09-22
  • [Presentation] SPMを用いたCNT薄膜トランジスタの電気伝導特性評価2010

    • Author(s)
      沖川侑揮, 他
    • Organizer
      2010年秋季第71回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      長崎大学
    • Year and Date
      2010-09-16
  • [Presentation] Characterization of carbon nanotube thin film transistors by scanning probe microscopy2010

    • Author(s)
      Y.Okigawa, et al
    • Organizer
      International Conference on the Science and Application of Nanotubes
    • Place of Presentation
      Hilton Bonaventure Montreal Canada
    • Year and Date
      2010-07-01

URL: 

Published: 2012-07-19  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi