原子核乾板性能専用許価装置による新乳剤機械塗布乾板の評価研究

2001 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 13640275
• Research Institution: Nagoya University
• Principal Investigator: 星野 香 名古屋大学, 大学院・理学研究科, 助教授 (70022738)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 中村 光廣 名古屋大学, 大学院・理学研究科, 助教授 (90183889)
• Keywords: 原子核乾板 / CCD / GD / FD

Research Abstract

原子核乾板の性能は最小電離荷電粒子の飛跡が単位長さ当りに作る銀粒子(グレイン)の数GDと、飛跡に無関係に存在する単位体積当りの銀粒子(フォグ)数FDで評価される。原子核乾板に蓄積された荷電粒子の飛跡を高倍率の対物レンズで、CCDカメラに結像させる。その飛跡は大きさが0.7ミクロン程度のグレインで、焦点をあわせる事でCCDの数ピクセルに及ぶ信号が認められる。最大の信号を出すピクセルをその粒子の位置として定義し、焦点面を変えながら映像を取り込むことで断層映像を得る。乾板面に対しほぼ平行に入射した飛跡は視野の中心に焦点が合致した映像と、その前後の映像を重ねることでほぼ視野全体に飛跡を構成でき、それに沿って存在する銀粒子数は信号のピーク数である。定義により最小電離荷電粒子の飛跡の計測で、いろいろな条件での乾板間の感度GDを比較することが出来る。多少曲がった飛跡でも、両端のグレインを指定することで2次曲線に合致するその間にあるグレインを選び出すことで計測可能である。一方雑音は同じフォグを複数の映像で記録してしまうが、同じフォグからの信号はピークになるピクセルが同じである事と、ピーク値は焦点が合致した映像の分が最も高くなる事を利用し二重三重に数えることを避けるようにした。ただし、この方法はグレインとフォグの区別をしないので、多くの荷電粒子を入射させた乾板や、年月が経って宇宙線や自然放射線による飛跡が蓄積した乾板のFD評価はできない。乾板面に水平入射していない飛跡のGD測定は今後の課題である。