2003 Fiscal Year Annual Research Report

フォールトトレラントプログラマブルチップの設計

Research Project

Project/Area Number	13650370
Research Institution	Chiba University
Principal Investigator	伊藤秀男千葉大学, 工学部, 教授 (90042647)
Co-Investigator(Kenkyū-buntansha)	難波一輝千葉大学, 工学部, 助手 (60359594)
Keywords	FPGA / プログラマブルチップ / 故障検出 / 欠陥 / 欠陥救済
Research Abstract	平成15年度は以下を目標とした.以下の(1),および(2)の細分化された問題,更に(3),(4)を繰り返し行って新手法の提案とその最適化を図る.また,一昨年度から今までに行った設計の最終的なチップ設計・評価を行い(5)を行う.更に,(6)も随時行なう.また,後半には(7)を行って研究を完成させる. (1)研究調査;(2)新手法の考案;(3)新手法の理論的評価;(4)新手法のシミュレーション評価;(5)試作チップ設計と評価ボード作成;(6)新手法の評価と学会発表;(7)研究の総括,今後の検討課題,研究報告書の作成 (1),については,修士研究,卒業研究を通して検討を行い,幾らかの成果も得られた. (2),(3),(4)については,ビットスライス的な構成方法によって欠陥を救済するという新しい手法を考案した.32ビット乗算器について,3つの欠陥救済方法を考案し,それらの特性(歩留り,オーバヘッド)を定量的に評価し,優劣を明らかにした.MPEGチップ回路についても基本的なところを検討した.16ビットや32ビットプロセッサなどの評価は今後の課題である. (5)についてはマルチコンテキストFPGAのテスト容易化設計について,VDECを通して試作チップ設計を行った.設計チップも平成15年9月に納入され,ボードへの実装を行って,動作チェックを行った.その結果,基本動作ができていることを確認できた. (6)の新手法の評価は,32ビット乗算器について行い,学会発表も既に行った. (7)については原稿は完了し,現在業者へ製本発注してある.

Research Products

(7 results)

All Other

All Publications (7 results)

[Publications] Gang Zeng, Hideo Ito: "Efficient Test Data Decompression for System-on-a-Chip Using an Embedded FPGA Core"IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerantce in VLSI Systems (DFT'2003) (Boston). 503-510 (2003)
[Publications] Abderrahim Doumar, Hideo Ito: "Detecting, Diagnosing, and Tolerating Faults in SRAM-Based Field Programmable Gate Arrayys : A Survey"IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. Vol.11,No.3. 386-405 (2003)
[Publications] 伊藤秀男: "テスト容易化マルチコンテキストFPGA"平成15年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集. MC2-8. 596-601 (2003)
[Publications] 徐炳億, 難波一輝, 伊藤秀男: "テスト数を小さくしたマルチコンテキストFPGAの故障検出"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS03,No.122. 1-7 (2003)
[Publications] Manabu Sueishi, Masato Kitakami, Hideo Ito: "Fault-Tolerant Message Switching Based on Wormhole Switching and Backtracking"10^<th> IEEE International Symposium on Pacific Rim Dependable Computing (PRDC 2004), (Tahiti). 183-190 (2004)
[Publications] 本田圭一, 難波一輝, 伊藤秀男: "乗算器の冗長化による高歩留り化設計の検討"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS04,No.132. 1-7 (2004)
[Publications] 高橋孝太, 難波一輝, 伊藤秀男: "決定論的遅延故障BISTのハードウェア量削減法"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS04,No.133. 1-8 (2004)

2003 Fiscal Year Annual Research Report

フォールトトレラントプログラマブルチップの設計

Principal Investigator

伊藤 秀男 千葉大学, 工学部, 教授 (90042647)

Research Products

[Publications] Gang Zeng, Hideo Ito: "Efficient Test Data Decompression for System-on-a-Chip Using an Embedded FPGA Core"IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerantce in VLSI Systems (DFT'2003) (Boston). 503-510 (2003)

[Publications] Abderrahim Doumar, Hideo Ito: "Detecting, Diagnosing, and Tolerating Faults in SRAM-Based Field Programmable Gate Arrayys : A Survey"IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. Vol.11,No.3. 386-405 (2003)

[Publications] 伊藤 秀男: "テスト容易化マルチコンテキストFPGA"平成15年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集. MC2-8. 596-601 (2003)

[Publications] 徐 炳億, 難波一輝, 伊藤 秀男: "テスト数を小さくしたマルチコンテキストFPGAの故障検出"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS03,No.122. 1-7 (2003)

[Publications] Manabu Sueishi, Masato Kitakami, Hideo Ito: "Fault-Tolerant Message Switching Based on Wormhole Switching and Backtracking"10^<th> IEEE International Symposium on Pacific Rim Dependable Computing (PRDC 2004), (Tahiti). 183-190 (2004)

[Publications] 本田圭一, 難波一輝, 伊藤 秀男: "乗算器の冗長化による高歩留り化設計の検討"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS04,No.132. 1-7 (2004)

[Publications] 高橋孝太, 難波一輝, 伊藤 秀男: "決定論的遅延故障BISTのハードウェア量削減法"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS04,No.133. 1-8 (2004)

伊藤秀男千葉大学, 工学部, 教授 (90042647)

[Publications] 伊藤秀男: "テスト容易化マルチコンテキストFPGA"平成15年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集. MC2-8. 596-601 (2003)

[Publications] 徐炳億, 難波一輝, 伊藤秀男: "テスト数を小さくしたマルチコンテキストFPGAの故障検出"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS03,No.122. 1-7 (2003)

[Publications] 本田圭一, 難波一輝, 伊藤秀男: "乗算器の冗長化による高歩留り化設計の検討"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS04,No.132. 1-7 (2004)

[Publications] 高橋孝太, 難波一輝, 伊藤秀男: "決定論的遅延故障BISTのハードウェア量削減法"電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会. FIIS04,No.133. 1-8 (2004)