固体中電子波面変換機能の時間領域シミュレーション

2002 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 13750303
• Research Institution: Tokyo Institute of Technology
• Principal Investigator: 町田 信也 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助手 (70313335)
• Keywords: 電子波 / 数値シミュレーション / 時間領域 / 回折 / 位相シフタ / BEEM / 半導体 / 量子構造

Research Abstract

本研究は固体中での電子の波面変換機能を時間領域で解析するシミュレータ開発、開発されたシミュレータを用いた波面変換観測実験の原理実証を目的として行なわれた。
シミュレータの主要部開発は前年度に完成されており、本年度は走査探針を用いた電子の固体中波面現象観測実験の原理実証を行った。本実験においては、走査探針から電子が放出され、固体中回折構造を通過し、エネルギフィルタで直進波のみ選り分けられ基板に到達する。この所謂弾道電子放出顕微鏡(BEEM)電流の探針位置依存性が回折パターンとなる。
昨年度において、二次元空間における時間領域シミュレーションから、回折構造をInP/GaInAs位相シフタとすることで、従来のBEEM技術を用いて観測の可能性があることが指摘された。しかしながらシミュレーション空間は二次元であり、走査探針の取り扱いは線波源とされていた。そこで、実際の探針形状が点状であり、探針を三次元点状波源としてモデル化する方法を考案し、最終的な波面現象観測の原理実証を行なった。
点状波源のモデルとしては、電子の波動関数を探針上で探針先端の物理直径程度の広がりを持つガウス関数として局在させることにより行なった。さらに、ガウス関数を実現するに必要な電子エネルギの広がりと回折パターンのコントラストとの関係を調べた。結果、回折パターンのコントラストは探針先端の物理直径に大きく依存し、直径が1mm程度以上で明瞭な回折パターンが出現することが解かった。

Research Products

• [Publications] N.Machida et al.: "Phase Coherence and Temperature Dependence of Current-Voltage Characteristics at Low-Current and Low-Voltage Region of Double-Barrier Resonant-Tunneling Diode"Japanese Journal of Applied Physics. 41・7A. 4469-4473 (2002)
• [Publications] N.Machida et al.: "Numerical Simulation toward Observation of Electron Wave Diffraction by Ballistic Electron Emission Microscope"7th international conference on nanometer-scale science and technology, 21st European conference on surface science. nano-7 ecoss-21. TH-P-091 (2002)
• [Publications] N.Machida et al.: "Theoretical Explanation of Current Modulation by Magnetic Field Observed in Hot-Electron Double-Slit Experiment"21st Electronic Materials Symposium. EMS-21. G-10 (2002)