ストレスがmemoryT細胞に及ぼす量的・質的変化の検討

2001 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 13770471
• Research Category: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• Research Institution: Kitasato University
• Principal Investigator: 宮田 聡子 北里大学, 医学部, 講師 (30260855)
• Keywords: 拘束ストレス / 免疫記憶 / memory T細胞

Research Abstract

拘束ストレスは、血中のグルココルチコイド(GC)の上昇をきたし様々な免疫抑制を引き起こすことが知られている。本研究の目的は、一旦成立した免疫記憶がストレスによりどのような影響を受けるのかを明らかにすることを目的として実験を行った。
1)naive, memory T両T細胞の量的変化の検討;
C57BL/6マウス8週令雄をコニカルチューブに入れて、24時間計3回拘束ストレスをかける。ストレス前、ストレス中、ストレス終了後の脾細胞を用いて、総細胞数、CD4、CD8陽性T細胞数をFACSを用いて測定した。総細胞数は、拘束ストレス施行3回目において約7%まで減少し、ストレス終了後10日目にほぼ正常に回復した。表面マーカーでは、CD4陽性細胞の減少の割合がCD8陽性T細胞より大きかった。更に、拘束ストレス前後の脾細胞におけるmemory T細胞のマーカーの変化についてCD45^<neg>,CD44^<hi>,CD62L^<lo>を指標にしてフローサイトメーター(FACS)にて検討した。しかし、CD45^<neg>,CD62L^<lo>の細胞は、拘束ストレスをかけることにより減少したが、CD44^<hi>の細胞には変化がみられず、memory T細胞のマーカーには一定の傾向が認められなかった。