2004 Fiscal Year Annual Research Report
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14580377
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| Research Institution | Waseda University |
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Principal Investigator |
木村 晋二 早稲田大学, 大学院・情報生産システム研究科, 教授 (20183303)
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| Keywords | 設計検証 / 高位検証 / 再構成可能素子の検証 / テクノロジーマッピング検証 / 映像処理向け検証 / Cベースハードウェア設計 |
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| Research Abstract |
近年の高位合成技術の進歩により、C言語やJavaなどのプログラムを仕様として大規模なハードウェアを設計するという手法が普及しつつある。これに伴い、ハードウェアシステムの検証レベルが高度化し、高位レベル検証手法の開発が急務である。そこで本研究では、プログラムを仕様とするハードウェアの設計検証手法の確立を目的として、以下の研究を行なった。
まず第一に、高位での設計検証について、CのプログラムからControl Data Flow Graphを経て等価論理の式を生成する手法の研究を行い、生成された式を用いて、仕様となるハードウェアと設計されたハードウェアの等価性の検証手法の提案を行った。式の生成の方法を最適化すると同時に、近年進歩の著しいSAT手法の適用について研究を行った。
第二に、高位設計で浮動小数点演算を固定小数点演算へ人手変換した場合の正当性の検証に関して、誤差の解析に基づく手法を提案し、変換後の固定小数点数のビット幅が十分であることを上から抑える手法を提案した。とくに、変数の誤差評価問題を、Control Data Flow Graphの情報から非線形最適化問題に帰着し、非線形のソルバを用いて解く手法を提案した。さらに、正の誤差と負の誤差の導入、定数の誤差についての詳細な解析および、演算器の面積を評価式に入れる手法を用いることで、最適解に近い結果が得られることを示した。
第三に、LSIの製造検証について、付加回路を加えて製造検証のためのパターン数を削減する手法の提案を行った。いくつかの回路に対して本手法を適用し、手法の有効性を示した。
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Research Products
(6 results)
