2002 Fiscal Year Annual Research Report
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14780237
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| Research Institution | Hiroshima City University |
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Principal Investigator |
井上 智生 広島市立大学, 情報科学部, 助教授 (40252829)
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| Keywords | 動的再構成 / プロセッサ / リコンフィギャラブル / テスト生成 |
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| Research Abstract |
本研究課題の動的再構成可能プロセッサは,最新の技術を取り込んで常に発展し続けている.具体的なテスト法を検討するためには,原稿の技術や動向にあったモデル化が必要となる.そこで3年計画の第1年度である平成14年度は,再構成可能プロセッサについての研究や市場の動向に関する調査を中心に行った.
動的再構成可能デバイスは,大きく2つのタイプに分かれる.1つは,従来のFPGA(プログラム可能なゲートアレイ)の機能を拡張したもの(FPGA拡張型)と,もう一つは,プロセッサとして新たにアーキテクチャのもとに設計されたもの(動的プロセッサ型)である.本研究では,特に後者のデバイスについて検討する.
調査の結果,(1)半導体の集積化技術に伴って,再構成可能プロセッサのアーキテクチャも刻々と変化している,(2)メーカによって異なる様々なアーキテクチャのプロセッサが存在する,ことがわかった.これらの情報は特にICCAD02やDATE03などの国際会議から得られたものが多く,世界的にも注目の高い技術であることがわかった.また,これらのことから,当初予定していた動的プロセッサ型のテストだけでなく,FPGA拡張型に対するテストも重要であることがわかった.
これらの調査結果をもとに,本研究の対象とする再構成可能プロセッサのアーキテクチャのモデルがほぼ設計できた.よって次年度以降は,FPGA拡張型プロセッサ,動的プロセッサ型の両方のアーキテクチャモデルについて,それぞれのモデルの具体化を進めながら,テスト法を考える予定である.特に平成15年度は,テスト可能性(すべての故障を検出を保証する完全なテスト系列,テスト方法)について考察する予定である.
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