2004 Fiscal Year Annual Research Report
テストデータの圧縮・展開を指向したテストアーキテクチャに関する研究
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15300021
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| Research Institution | Hiroshima City University |
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Principal Investigator |
市原 英行 広島市立大学, 情報科学部, 助教授 (50326427)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
井上 智生 広島市立大学, 情報科学部, 教授 (40252829)
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| Keywords | LSIテスト / データ圧縮 / 展開器 / 圧縮器 / テストデータ / 統計型符号 / テストコスト / 再構成可能 |
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| Research Abstract |
今年度は以下の2つの課題に順次取り組んだ.
(1)統計型符号化手法に対する解析,新たな符号化手法の提案
初年度はハフマン符号に関するモデル設計・解析を行ったが,今年度はその成果を一般的な統計型符号に拡張し,その解析を行い,新たな符号化手法を提案した.提案した符号化手法は,符号語長とその圧縮率を適切に調整することで,テスト環境に応じたテストデータの圧縮・展開を行うことができる.この成果は,国際会議WRTLT05およびASP-DAC2005で報告した.また,現在はJPEGなどで用いられている圧縮・展開アルゴリズムを用いたテストデータの圧縮・展開に取り組んでおり,良好な実験結果が得られれば,来年度に報告できると考えている.
(2)解析に基づいたテストアーキテクチャ設計手法の提案・評価
上記の統計型符号の解析に加え,ランレングス符号やゴーロム符号などの解析も行い,再構成が可能なテストアーキテクチャを設計した.このアーキテクチャは,テストデータに応じた高い圧縮率を得られるだけでなく,LSIの設計フローに適切に組み込むことができるため,実用性が高いと考えられる.なお,このアーキテクチャは計算機実験により評価し,その実用性を確認している.成果は来年度の国内研究会(電子情報通新学期RECONF研究会)で報告する予定である.
さらに,今年度は前年度の研究成果を国際会議(Asian Test Symposium 2004)で報告したり,学術論文誌(電子情報通信学会和文誌D-I,英文誌D)に掲載することで,成果公開も積極的に行った.
以上のことから,本年度の研究計画はほぼ予定通り達成できたと考えている.
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