2003 Fiscal Year Annual Research Report
真空中に取り出された中空イオンからのAuger電子放出
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15540387
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| Research Institution | The Institute of Physical and Chemical Research |
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Principal Investigator |
金井 保之 独立行政法人理化学研究所, 原子物理研究室, 先任研究員 (00177487)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
山崎 泰規 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 教授 (30114903)
岩井 良夫 独立行政法人理化学研究所, 原子物理研究室, 基礎科学特別研究員
中井 陽一 独立行政法人理化学研究所, 原子物理研究室, 先任研究員 (30260194)
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| Keywords | マイクロキャピラリー / 中空イオン / Auger電子 / X線 |
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| Research Abstract |
1.真空中に取り出された中空イオンから放出されるAuger電子を測定するために、測定装置などの測定系の準備を行った。具体的には、(1)既存の電子分光器の改造(新たな真空槽への取り付けるための改造、電子検出器取り付け法の改良など)、(2)電子分光器等を制御するための回路、プログラムの開発(測定を自動化し、遅延X線測定あるいは荷電分析測定との同時測定を可能にするため)を行った。
2.これと並行して、Auger電子測定を行うための予備測定として、種々の価数のArイオン(1〜6個のL殻空孔を持つ)とNイオン(1〜2個のK殻空孔を持つ)の遅延X線と価数の同時測定を行った。ECRイオン源から引き出された核子あたり数keVのArイオンとNイオンをマイクロキャピラリー薄膜に入射させ、イオンとキャピラリー内壁面との相互作用で生成された、中空イオンの脱励起過程で放出されるX線(遅延X線)と価数の同時測定を行った。その結果、(1)入射する多価イオンが内殻に複数個の空孔を持つ場合、最終的に一個の電子を捕獲したイオンから放出される遅延X線の放出寿命は二個以上電子を捕獲したイオンから放出される物の寿命に比べ短くなるが、(2)内殻空孔が一個の場合には遅延X線の寿命は最終的に捕獲された電子数に依らない。これは、遅延X線の寿命には内殻を埋める最後の遷移の遷移寿命が大きく寄与している事を示唆している。但し、価数との同時測定時のX線測定は分解能の問題で遷移の順位を同定出来ていない。
3.Nイオンに関ついては、高分解能X線分光器で放出X線寿命を測定し、内殻を埋める最後の遷移に関わる順位の同定を行い、上記2の結果との関係について検討を行っている。
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