2005 Fiscal Year Annual Research Report
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15580007
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| Research Institution | Kagawa University |
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Principal Investigator |
武田 真 香川大学, 農学部, 教授 (40216891)
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| Keywords | オオムギ / 遺伝子 / 種子 / 皮麦 / 裸麦 / ポジショナルクローニング |
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| Research Abstract |
オオムギはトウモロコシ,コムギおよびイネに次いで世界で4番目に生産量の多い重要な作物である.オオムギはゲノムサイズが単子葉植物のモデルであるイネの約12倍と大きく,農業的に重要な遺伝子を単離することが困難である.われわれはこれまでにオオムギの重要形質である,種子の皮裸性を決定する遺伝子(nud)のポジショナルクローニングを進めてきた.3年計画の最終年度にあたる今年度は、nud遺伝子座をカバーする物理地図を完成させると共に,候補遺伝子を同定し,その機能を推定することを目的とした.
まず,皮性品種'樺太在来'と裸性品種'合津裸3号'の交雑F2集団1,223個体を用いた高精度連鎖解析を行い,nud遺伝子を共優性マーカーで挟まれた0.24cMの区間にマッピングした.nudの基部側および末端側に隣接するマーカーとの遺伝距離はそれぞれ0.20cMおよび0.04cMであった.染色体歩行によりこの領域を7本のBACクローンでカバーするコンティグを完成させた.その総長は約500kbであった.このようにしてnud座の物理地図を完成させることができた.これと並行して,イネとのマイクロシンテニーを利用した比較解析を行う過程で,皮裸性遺伝子の候補が特定できた.そこで,頴果,頴,および止葉について開花日から4日おきにRNAを抽出し,RT-PCR法を用いて発現解析を行った.その結果,この遺伝子は頴果で特異的に発現していることがわかり,発現量は開花後8日目が最も高かった.このことから,この遺伝子が皮裸性の原因遺伝子として有力であるとみられた.
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Research Products
(1 results)
