2004 Fiscal Year Annual Research Report
症候性唇裂・口蓋裂の遺伝子解析による、唇裂・口蓋裂原因解明へのアプローチ
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15659420
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| Research Institution | Tohoku University |
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Principal Investigator |
山田 敦 東北大学, 大学院・医学系研究科, 教授 (60107662)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
斉藤 ちひろ 東北大学, 病院・助手 (00332502)
鈴木 洋一 千葉大学, 大学院・医学研究院, 助教授 (80216457)
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| Keywords | 唇裂 / 口蓋裂 / 遺伝子解析 |
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| Research Abstract |
日本人唇裂・口蓋裂の発症感受性遺伝子を同定する目的として、東北大学医学部倫理委員会の承認の基、東北大学医学部附属病院で遺伝子診断および遺伝子解析研究における遵守事項に則り、書面及び口頭で説明し、同意を得た210家系の検体を得た。
症候性の唇裂・口蓋裂において、日本人以外で報告されている、Van der Woude症候群(口唇瘻孔を伴う唇裂・口蓋裂:常染色体優性遺伝)におけるIRF6遺伝子変異、Rapp-Hodgkin症候群(外胚葉形成不全-唇裂・口蓋裂症候群:常染色体優性遺伝)におけるp63遺伝子変異を日本人で初めて確認した。方法は以下の通りである。Van der Woude症候群3家系とRapp-Hodgkin症候群1家系の患者とその両親より、末梢血細胞を採取しDNAを抽出した。IRF6遺伝子とp63遺伝子の各エクソンをPCR法で増幅し、直接塩基同定法にて各エクソンの配列を同定した。エクソン内の塩基置換を同定し、その塩基置換が、正常日本人50人に認めないことを確認した。また家系内の正常者に認めないことを確認した。これにより塩基置換が病因遺伝子変異と考えた。OFD-I症候群(口腔・顔面・指奇形)におけるOFD-I遺伝子の変異を、上記と同様な方法でスクリーニングしたが同定できなかった。
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Research Products
(4 results)
