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2017 Fiscal Year Annual Research Report

レーザーフォールト攻撃による情報漏洩を防ぐ耐タンパー技術の総合的研究

Research Project

Project/Area Number 15H01688
Research InstitutionThe University of Electro-Communications

Principal Investigator

崎山 一男  電気通信大学, 大学院情報理工学研究科, 教授 (80508838)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 林 優一  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)
三浦 典之  神戸大学, システム情報学研究科, 准教授 (70650555)
菅原 健  電気通信大学, 大学院情報理工学研究科, 准教授 (60785236)
Project Period (FY) 2015-04-01 – 2019-03-31
Keywords暗号・認証等 / 電子デバイス・機器 / 計算システム
Outline of Annual Research Achievements

平成29年度の実施計画に従い,3項目について取り組んだ.それぞれの項目について研究実績の概要を述べる.
1) レーザーフォールト攻撃の評価環境の構築:平成28年度に作製したAES暗号とフォールト攻撃対策回路(レーザー検知センサ回路と電源遮断回路)を搭載したICチップに対して,実際の攻撃を想定した実験が可能となる環境を構築した。また、情報漏えいの有無を定量的に評価できる解析環境を構築した。
2) 基板応答モデルと攻撃センサの最適設計手法の検証:平成28年度に開発したICチップに内蔵されている実装効率の高いレーザー検知センサ回路に対して、フォールト攻撃実験を行い、得られた実測データを用いて基板応答モデルの妥当性と設計手法の最適性を確認した。
3) 検知に基づく暗号アルゴリズムレベルの対策技術の開発:暗号回路の電源領域を独立させ、センサ回路による検知信号により電源遮断を行うことで、効果的な情報漏洩対策(暗号回路の中間値データを強制的に瞬時に揮発させる)が可能となる回路を平成28年度に作製したICチップに搭載した。上記1)において構築した評価環境を用いて、ICチップに対して様々な攻撃実験を行った結果、当初の予想どおり、1~2ナノ秒程度でAES回路の中間データが、完全に消去されていることが確認できた。暗号処理回路のクロックサイクルと比べて、極めて短時間であり、情報漏洩対策として有効であることを実証した。この対策は、AES以外の暗号回路に対しても有効であると考えられる。
なお、電源遮断時に漏洩する電磁波サイドチャネル情報を調べた結果、レーザー攻撃対策回路(レーザー検知センサ回路と電源遮断回路)を搭載したことによる副作用は見られなかった。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

1: Research has progressed more than it was originally planned.

Reason

平成28年度に作製したICチップに対する評価環境の構築と評価実験は順調に進み、予定していた機能検証と安全性評価は全て平成29年度中に完了した。当初の計画に対して1年以上早い進展である。得られた知見は、暗号の数理と物理の融合研究成果として論文に纏め、国際会議ISSCC’18で発表した。併せて行ったデモ展示で、本研究課題の新規性や有効性をアピールした。
また、安全性評価研究を進めていく中で、高いセキュリティレベルを確保する上での新たな研究課題(レーザーフォールト攻撃のプロービング攻撃への応用)が見つかった。本研究課題で扱うレーザーフォールト攻撃対策を一般化した、物理攻撃全般に対する対策技術に資する重要な研究課題である。

Strategy for Future Research Activity

高いセキュリティレベルを確保する上での新たな研究課題が浮き彫りとなっている。作製したICチップを用いて、追加した研究課題に取り組み、本研究課題の中核であるレーザー攻撃対策技術と安全性評価手法におけるより深い理解を目指す。

  • Research Products

    (15 results)

All 2018 2017 Other

All Int'l Joint Research (2 results) Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (10 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results,  Invited: 3 results) Book (1 results)

  • [Int'l Joint Research] KU Leuven(ベルギー)

    • Country Name
      BELGIUM
    • Counterpart Institution
      KU Leuven
  • [Int'l Joint Research] Telecom ParisTech(フランス)

    • Country Name
      FRANCE
    • Counterpart Institution
      Telecom ParisTech
  • [Journal Article] A 286F^2/Cell Distributed Bulk-Current Sensor and Secure Flush Code Eraser Against Laser Fault Injection Attack2018

    • Author(s)
      Kohei Matsuda, Tatsuya Fujii, Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Kazuo Sakiyama, Yu-ichi Hayashi, Makoto Nagata, and Noriyuki Miura
    • Journal Title

      Dig. Tech. Papers, 2018 IEEE Intl. Solid-State Circuits Conference (ISSCC’18)

      Volume: 2018 Pages: 352-353

    • DOI

      10.1109/ISSCC.2018.8310329

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Exploiting Bitflip Detector for Non-Invasive Probing and its Application to Ineffective Fault Analysis2017

    • Author(s)
      Takeshi Sugawara, Natsu Shoji, Kazuo Sakiyama, Kohei Matsuda, Noriyuki Miura, and Makoto Nagata
    • Journal Title

      Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC’17)

      Volume: 2017 Pages: 49-56

    • DOI

      10.1109/FDTC.2017.17

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] フォルト検出センサを悪用した非侵襲プロービング攻撃2018

    • Author(s)
      菅原健, 庄司奈津, 崎山一男, 松田航平, 三浦典之, 永田真
    • Organizer
      2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム
  • [Presentation] ブロック暗号へのプロービング攻撃における鍵復元効率の正確な評価モデル2018

    • Author(s)
      庄司奈津, 菅原健, 岩本貢, 崎山一男
    • Organizer
      2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム
  • [Presentation] IC内部の回路構成変更が秘密鍵の取得性に与える影響の評価2018

    • Author(s)
      郡義弘, 藤本大介, 林優一, 崎山一男, 三浦典之, 永田真
    • Organizer
      情報・システムソサエティ特別企画学生ポスターセッション
  • [Presentation] レーザーフォールト攻撃対策である電源遮断回路実装時のサイドチャネル耐性評価2018

    • Author(s)
      郡義弘, 藤本大介, 林優一, 三浦典之, 永田真, 崎山一男
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
  • [Presentation] An Evaluation of Ineffective Fault Analysis on AES using Single-Bit Bit-Set/Reset Faults2017

    • Author(s)
      Natsu Shoji, Ryuga Matsumura, Takeshi Sugawara, and Kazuo Sakiyama
    • Organizer
      The 12th International Workshop on Security (IWSEC'17) Poster Session
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 基板電流検知回路を用いたレーザーフォールト注入攻撃対策のオーバヘッド推定2017

    • Author(s)
      松田航平, 三浦典之, 永田真, 林優一, 藤井達哉, 崎山一男
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
  • [Presentation] Laser fault injection attack countermeasure by abnormal substrate potential bounce monitoring2017

    • Author(s)
      Kohei Matsuda, Noriyuki Miura, Makoto Nagata
    • Organizer
      The 16th International Conference on Computers, Communications, and Systems (ICCCS 2017)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 誤り暗号文を使わないAESへの故障利用攻撃2017

    • Author(s)
      庄司奈津, 松村竜我, 菅原 健, 崎山一男
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
  • [Presentation] Who Will Fault Sensors be Helpful for?2017

    • Author(s)
      Kazuo Sakiyama
    • Organizer
      COSIC Seminar
    • Invited
  • [Presentation] サイドチャネル攻撃と対策2017

    • Author(s)
      菅原健
    • Organizer
      2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会・チュートリアルセッション
    • Invited
  • [Book] IoT時代の電磁波セキュリティ ~21世紀の社会インフラを電磁波攻撃から守るには~, 分担執筆, 崎山一男, 林優一, 付録B 暗号モジュールを搭載したハードウェアからの情報漏えいの可能性の検討2018

    • Author(s)
      一般社団法人 電気学会・電気システムセキュリティ特別技術委員会
    • Total Pages
      346
    • Publisher
      科学情報出版
    • ISBN
      978-4-904774-66-3

URL: 

Published: 2018-12-17  

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