2016 Fiscal Year Annual Research Report
IC Test Method Based on Charge Volume Injected from a Power Supply Circuit within a Timing Window
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15K12002
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| Research Institution | The University of Tokushima |
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Principal Investigator |
橋爪 正樹 徳島大学, 大学院理工学研究部, 教授 (40164777)
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| Project Period (FY) |
2015-04-01 – 2017-03-31
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| Keywords | 電流テスト / IC / 断線 / 短絡 / 電荷量 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
電源からICに流れる電源電流を測定しICを検査する検査法は「電流テスト法」と呼ばれている。IC内の回路に断線や短絡故障が発生すると，ICへの検査入力印加後に流れる電源電流値だけでなく，ある時間内（以後，「タイミングウインドウ」と呼ぶ）に電源から供給される電荷量に顕著な影響が現れる。本研究では従来の電流テスト法のように電源電流値を測定するのでなく，タイミングウインドウ内の電源からの電荷供給量による検査を可能とするIC内組み込み型検査回路を開発し，それを用いた検査法の開発とその検査能力を明らかにすることを目的としている。
平成２８年度は平成２７年度に設計したタイミングウインドウ内の電荷供給量によるICの電気検査を可能にする電気検査回路と，それを用いてインバーターチェイン回路に電気的に故障を挿入し検査できる回路を設計し，IC試作を行った。その電気検査回路は一定量の電荷を供給するコンデンサとそのコンデンサに充電した電荷を検査対象回路に供給する制御回路，ICの電源電圧監視を行うコンパレータと，コンデンサからの充電回数をカウントするカウンタ回路から構成した。その検査回路を用いIC内に電気的に挿入した故障が発見できることを試作ICを用いた実験で明らかにすることは試作ICの入手が予定より遅れたため現在行っているが，回路シミュレーションによる調査では確認済みである。また平成２８年度はその検査法のための検査入力を明らかにし，その検査入力生成法を開発した。その検査入力生成法で生成した検査入力の印加により，開発した電気検査回路を内蔵することで，従来の検査法では検出できない故障のうち約70%は本テスト法で検出できることを確認した。
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