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2006 Fiscal Year Annual Research Report

ナノポジショニングによるナノ・メガシステムの強度物性ゆらぎマップ測定システム

Research Project

Project/Area Number 16206013
Research InstitutionTOHOKU UNIVERSITY

Principal Investigator

三浦 英生  東北大学, 大学院工学研究科, 教授 (90361112)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 高 偉  東北大学, 大学院工学研究科, 助教授 (70270816)
小川 和洋  東北大学, 大学院工学研究科, 助教授 (50312616)
笹川 和彦  弘前大学, 理工学部, 助教授 (50250676)
Keywords薄膜 / ナノ強度物性 / 信頼性 / ナノ計測 / 原子構造解析 / 半導体 / ナノインデンテーション / ナノポジショニング
Research Abstract

本研究は,ナノテクノロジーを基盤技術として開発するナノ・メガシステムを対象とし,これらの信頼性を支配するナノメートルオーダーの材料強度物性のゆらぎ分布を測定する技術を開発することを目的としている.
平成18年度は,17年度までに開発したナノ・メガシステムの強度物性ゆらぎマップ測定システムを活用し,次世代半導体用微細薄膜配線材料,高誘電率薄膜材料,次世代高温ガスタービン動翼材料等のナノスケール結晶構造,組織変化に基づく各種物性変動メカニズムの解明研究を推進した.その結果,薄膜配線材料においては,ナノスケールの柱状組織が形成されることで,機械特性(弾性率や破壊強度等)に強い三次元異方性が発現するとともに,ナノスケールで複雑な三次元分布が形成されることを実証した.また,高誘電率薄膜材料においては,原子レベルでの欠損に基づき,局所的な著しいバンドギャップ低減が発生し,絶縁特性の低下とともに,点欠陥の拡散に基づく大きな経時変化が生じることを解析的に明らかにした.これらの解析結果を,(財)高輝度光科学研究センター(SPring-8)内の光電子分光分析設備を活用して実証した.さらに,次世代高温ガスタービン向け耐熱合金において,高温高応力負荷環境でナノスケールの微細分散組織が構成原子の応力起因の異方的拡散挙動に起因して粗大化層状化し,急激に高温強度が劣化する現象の大気中可視化を実現し,その劣化損傷メカニズムを明らかにした.
以上の研究から,本研究の当初目標であった,「ナノメートルオーダーの分解能(位置再現分解能:20nm)で測定対象領域を特定し,最小位置分解能100nm以下で材料表面の強度物性(弾性率,硬度,降伏応力,残留応力,界面接着強度等)のゆらぎ分布マップを,最小変位分解能0.2pm,荷重分解能1nN単位で測定する技術」を完成するとともに,その有用性を実証した.

  • Research Products

    (7 results)

All 2007 2006

All Journal Article (6 results) Book (1 results)

  • [Journal Article] 三次元フリッブチッブ実装構造における薄化チップの局所変形と残留応力2007

    • Author(s)
      三浦英生
    • Journal Title

      (社)電子情報通信学会 信学技報 CPM2006-140

      Pages: 67-72

  • [Journal Article] Residual Stress Distribution in Stacked LSI Chips Mounted by Flip Chip Technology2006

    • Author(s)
      Nobuki Ueta
    • Journal Title

      IEEE International Conference on Electronic Materials and Packaging

      Pages: 158-163

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [Journal Article] Fluctuation mechanism of Mechanical Properties of Electroplated Copper Thin Films Used for Three-Dimensional Electronic Modules2006

    • Author(s)
      Hideo Miura
    • Journal Title

      Asian Pacific Conference on Fracture and Strength of Materials (CDROM)

      Pages: 1-4

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [Journal Article] エレクトロニクス実装構造信頼性の分析・計測技術2006

    • Author(s)
      三浦 英生
    • Journal Title

      エレクトロニクス実装学会誌 9・3

      Pages: 152-156

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [Journal Article] ナノスケールの材料力学2006

    • Author(s)
      三浦 英生
    • Journal Title

      日本機械学会論文集 72・717A

      Pages: 595-601

  • [Journal Article] Quantum Chemical Molecular Dynamics Analysis of the Effect of Oxygen Vacancies and Strain on Dielectric Characteristic of HfO2-x Films2006

    • Author(s)
      Yuta Ito
    • Journal Title

      IEEE Int. Conf. on Simulation of Semiconductor Processes and Devices

      Pages: 150-153

  • [Book] 機械工学便覧 デザイン編β2 材料学・工業材料2006

    • Author(s)
      三浦 英生, 他76名
    • Total Pages
      285
    • Publisher
      丸善株式会社

URL: 

Published: 2008-05-08   Modified: 2016-04-21  

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