2004 Fiscal Year Annual Research Report
光リフレクトメトリの高精度化と光ファイバ通信システムにおける多重径路干渉の評価
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16360168
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Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
何 祖源 東京大学, 大学院・工学系研究科, 研究拠点形成特任教員(常勤形態) (70322047)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
保立 和夫 東京大学, 大学院・工学系研究科, 教授 (60126159)
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| Keywords | 光ファイバ計測 / 光ファイバセンシング / 光ファイバ通信 / 光リフレクトメトリ / 光波コヒーレンス / レーリー散乱 / 光デバイス / 光反射分布計測 |
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| Research Abstract |
本研究の目的は、本研究グループの独創技術として成果を蓄積してきた「光波コヒーレンス関数の合成法」という反射光分布測定技術と、本研究代表者が過去2年間にアメリカシエナ社(CIENA Corporation)で展開してきた「波長掃引平均法」という測定法を融合させることにより、反射光分布測定技術の反射率測定精度を向上させ、光ファイバ増幅器などの光ファイバモジュールの診断,多重径路干渉(MPI)の計測と評価など、光ファイバ通信産業で難関となっている問題の解決方法を提供することにある。
これまでは、光ファイバ中のレーリー散乱光同士の干渉など、反射光分布測定精度の制限要因を検討・解析し、反射率精度への影響の数値シミュレーションを進めて、挙動解析用基本式の導出と、反射率精度と感度の現実的な限界を把握することができている。レーザ光源の光周波数の多重変調により、光波コヒーレンス関数の合成法に波長平均法を融合させるという、光リフレクトメトリの反射率分解能を向上する新たな手法を提案した。シミュレーションでは、50GHzの波長帯域にわたって、100点程度の波長平均を施すことによって、光ファイバモジュールの診断に要求される0.1dB程度の反射率分解能を達成することが可能であることを示した。また、基礎実験で実証を成功した。さらに、レーザ光源の光周波数に光波コヒーレンス関数の合成のための高速変調と、波長平均処理のための比較的に低速な線形連続変調を二重に施す、という新たの手法を発明し、今までの階段型変調と違う変調手法を確立している。これによって、従来手法では数1000秒を要する高精度光ファイバ反射分布計測を約数10秒で完成することが成功している。本研究によって、「使える」高精度光ファイバ診断技術の確立に大きく前進している。
本年度の研究成果として、英文学会誌論文6件掲載済みで、国際会議論文5件(内招待講演1件)、国内学会・研究会論文9件も発表している。
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