2005 Fiscal Year Annual Research Report
ソフトウェア・テストに用いる検査計画の構成に関する研究
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16510102
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| Research Institution | University of Tsukuba |
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Principal Investigator |
藤原 良叔 筑波大学, 大学院・システム情報工学研究科, 教授 (30165443)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
繆 いん 筑波大学, 大学院・システム情報工学研究科, 助教授 (10302382)
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| Keywords | 直交配列 / 被覆配列 / 詰め込み配列 / 検査計画 / 実験計画 |
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| Research Abstract |
検査計画も実験計画と同様な組合せ的構造を持っており,その構成についても有限体などの代数や組合せ理論を中心とした離散数学を駆使して構成する.ソフトウェア・テストには直交配列など実験計画法で開発された計画も利用できるが,直交配列は制約が厳しいため構成できる範囲がきわめて小さい.直交配列より条件を緩めた被覆配列とよばれる組合せ的配列の研究を行った.
藤原と繆は被覆配列へ拡張可能な特殊な直交配列の構成のため,有限射影幾何上のある問題の解決を試みるた.被覆配列と裏の関係のある詰め込み配列の構成にいくつかの結果をえた.また認証符号で特殊な直交配列を必要とし,被覆配列との関係もあり,特殊直交配列の構成問題に取り組んだ.
藤原は強さ3の被覆配列の構成に取り組んでいる.Chateauneuf-Colbournの方法が有名であるが,彼等とは異なる方法で,より効率の良い配列を作る方法を研究中である.強さ2(一部強さ3)の直交配列を拡張して,強さ3の被覆配列を作る方法で,この方法は検査回数が少なくてすむ特徴を持っている.この方法で被覆配列の列数(ソフトウェア検査の引数の数に相当)をいくらまで増やせるかは,有限射影幾何のある問題(External Arcと命名)と同値であることを突き止めた.そしてそのバウンドを求め,その限界まで構成することができるかの研究を行っている.この結果は"A Construction of Covering Arrays of Strength Three and External Arc Problems"というタイトルで現在執筆中である.
繆は被覆デザインの問題と認証問題との関係など,組合せ問題とセキュリティの関係に取り組んでいる.そしてそこから逆に被覆配列のより効率的な構成法の発見に結びつく可能性がある.
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Research Products
(7 results)
