パネルデータを用いた技術非効率発生メカニズムの動態的分析

2005 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 16530150
• Research Institution: Yokohama National University
• Principal Investigator: 鳥居 昭夫 横浜国立大学, 大学院・国際社会科学研究科, 教授 (40164066)
• Keywords: 技術非効率 / ヴィンテージ・モデル / 指数べき乗分布

Research Abstract

本研究の目的は、事業所レベルの技術非効率の水準が設備のヴィンテージおよび更新投資等によってどのように変化していくかを実証的に推計することによって、一つの産業の技術非効率水準の変化を動態的に捉えることである。この目的を果たすため、事業所レベルの技術効率水準が、どのような要因によって変化するかを説明する確率過程モデルを構築し、個々の事業所の技術効率水準の分布の統計的特性を予測する。次の段階で、事業所レベルのデータを用いて、ある年度の個々の事業所の技術効率水準を条件とする次年度の技術効率水準の条件付き分布をえる。この分布の分布特性を検定し、理論モデルの適否を論じる。
本年度は、主に後半の実証分析を遂行した。昨年度の本研究において確率過程モデルとそのシミュレーションによって、Exponential Power Familyと呼ばれる分布が、条件付分布として得られるのではないかと予測されている。この予測を検定した。
第1に、対象とする産業としてスーパーマーケットの食品小売部門を選択した。この理由は等質な事業所データを豊富に得られるからである。パネル・データとして得られた事業所データは6000を超えた。第2に、これらのパネル・データから生産関数を推計した。この生産関数推計に併せて、技術非効率の水準も推計した。最後に、こうして得られた技術効率のパネル・データから、技術効率変化分を求め、最終的にこの変化分の分布パラメータについて複数の仮説を検定した。
主な結論は、効率水準変化がExponential Power Familyで示される分布をなしていること、研究代表者が『日本産業の経営効率』においてすでに得ている予測は、概ね肯定的に支持されていること等である。