2005 Fiscal Year Annual Research Report
Project/Area Number |
16560253
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Research Institution | Takushoku University |
Principal Investigator |
澁谷 昇 拓殖大学, 工学部, 教授 (50114822)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
高橋 丈博 拓殖大学, 工学部, 助教授 (10206815)
作左部 剛視 拓殖大学, 工学部, 助手 (80092485)
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Keywords | ユビキタス機器 / 電磁干渉(EMC) / ノイズイミュニティ / 近傍電界測定 / 基板上の誤動作マップ |
Research Abstract |
ユビキタス機器は内部・外部からの電磁干渉により誤動作を起こす可能性がある。このような機器が外部ノイズから受ける干渉の度合いを測る尺度としてイミュニティ試験における厳しさレベルがあるが、より軽度の干渉の度合いを示す指標が必要である。そこで本研究では、ユビキタス機器などの電子装置の内部や装置間に電磁ノイズ干渉を与え、それによって生じる誤動作の程度と通信品質への影響、及びイミュニティ指標の可能性を調べた。本年度は、前年度で確立した、「スループット」による指標を用い、装置の近傍からノイズを与えた際の装置内基板上での"誤動作分布"と、購入した近傍電磁界測定装置によって測定された近傍電磁界分布を比較した。 測定では,被試験機器(PC)の外部に無線LAN基地局を接続し、受信側PCでスループットを測定した。無線通信方式はIEEE802.11b、通信プロトコルはFTPを用い、5MBのファイルの送受信を行った。 (1)外部からの電磁ノイズ妨害を加えた際の、機器のモジュールや部品の誤動作マップを作成した。 (2)機器の基板近傍での電界強度分布を測定した。 上記の測定の結果、外部からの電磁ノイズ妨害を加えた際の機器のモジュールや部品の誤動作マップと近傍での電界強度分布に、多くの周波数で一致するものが見られた。このことから、従来より指摘されていた(が、実験等により確認されていなかった。)、ノイズ放射の大きい箇所はノイズイミュニティが小さく、また逆に、ノイズ放射の小さい箇所はノイズイミュニティが大きいことが、実験でも確認された。これより、装置近傍での電界測定することにより、ノイズに弱い箇所を容易に特定することができるようになった。
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Research Products
(3 results)