2005 Fiscal Year Annual Research Report
DNA修復欠損トリコチオディストロフィーはいかにして紫外線発癌を回避するのか?
Project/Area Number |
16591114
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Research Institution | Nara Medical University |
Principal Investigator |
小林 信彦 奈良県立医科大学, 医学部, 講師 (70316074)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
森 俊雄 奈良県立医科大学, 医学部, 助教授 (10115280)
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Keywords | トリコチオディストロフィー / TFIIH / 紫外線発癌 / 色素性乾皮症(XP)D群 / 紫外線DNA損傷 / 局所紫外線照射法 / モノクローナル抗体 / DNA修復の可視化 |
Research Abstract |
紫外線高感受性トリコチオティストロフィー(TTD)患者の大部分は、色素性乾皮症(XP)D群遺伝子変異により発症する。他に、XPBあるいはTTD-A遺伝子に変異を持つ相補性群か知られている。XPB・XPD・TTD-A蛋白は全てTFIIHのサブユニットである。TFIIHは、ヌクレオチド除去修復(NER)においてhelicaseとして働く。興味深いことに、原因遺伝子か共通で、同じくNER異常を持つXPとは異なり、TTDでは高発癌性はみられない。本研究では、我々か独自に確立したDNA損傷定量法およびin vivo NER解析法を駆使して、突然変異を持つTTD細胞が発癌を回避し得るメカニズムを解明するため、TTDおよひXP-DにおけるNER異常と、その差異について詳細に検討を行った。 その結果、使用した4種類のXP-D細胞のDNA修復は、同程度に欠損しており、これらの細胞のDNA修復活性は正常細胞の約半分てあった。XPD蛋白のC末端側(R683W)に変異を持つXP2NE・XP22VI・XP26VIでは、TFIIH発現の低下はなく、またTFIIHは正常細胞と同程度にDNA損傷に集積した。XPD蛋白のN末端側(G47R)に変異を持つXP1NEでは、TFIIH発現量は正常細胞の1/2未満と減少がみられたが、発現したTFIIHはDNA損傷に集積した。 本年度の研究を通じて、TTDとXP-DのNER欠損の機序は異なり、TTDのDNA修復欠損はTFIIHの発現量低下およびTFIIHのDNA損傷部位への集積欠損により、XP-Dの修復欠損は、XPD蛋白のhelicase活性の低下により生じることを明らかにした。
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Research Products
(1 results)