• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2017 Fiscal Year Research-status Report

確率過程モデルにもとづくナノ構造体における欠陥制御型プロセス設計手法の研究

Research Project

Project/Area Number 16K14405
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

江利口 浩二  京都大学, 工学研究科, 教授 (70419448)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 巽 和也  京都大学, 工学研究科, 准教授 (90372854)
Project Period (FY) 2016-04-01 – 2019-03-31
Keywordsプラズマ処理 / 表面処理 / ナノ構造 / 確率過程 / 欠陥
Outline of Annual Research Achievements

平成29年度は、平成28年度に引き続き単結晶シリコン基板、また新たにシリコン窒化膜を対象に加え、プラズマ曝露によるそれら表面構造中での欠陥形成過程に着目し、曝露時間発展に対する欠陥(形成)データを系統的に取得した。その結果、(1)プラズマ曝露による単結晶シリコン基板中の欠陥形成が全入射イオンフラックス量(ドーズ量)、すなわち曝露時間に依存すること、(2)シリコン窒化膜表面近傍の欠陥形成が、確率的にギャップ内の特定のエネルギー準位に形成されることを明らかにした。(1)では、分光エリプソメトリー解析を駆使し、表面反応層厚さが、特性ドーズ量を境に時間依存から飽和状態に遷移することを明らかにした。このことは、欠陥形成過程が、確率的過程から統計的過程へと変化することを示している。つまり、特性ドーズ量が欠陥形成確率過程に対する重要なパラメータとなり得ることを示唆している。今後、電気容量解析を用いた手法を適用することでそのメカニズム解明に注力する。また、(2)では、古典的分子動力学法および第一原理計算を用いた検討から、形成される欠陥準位がプラズマパラメータに依存することが示唆され、その一例(Arプラズマ曝露)を実験から明らかにすることができた。また、研究協力者とともに進めてきた酸素欠損型欠陥を有する金属系抵抗薄膜における電子伝導の確率的振る舞いについては、確率過程理論(伊藤理論)に基づくモデルの有効性を実証し、信頼性設計に実装した。さらに研究分担者とともに、誘電泳動力を用いたマイクロ流体デバイス内の粒子動力学数理モデル構築のための種々の時空間データを取得することができた。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

欠陥形成過程に対する確率過程の適用は完了していないが、単結晶シリコン基板での欠陥形成時間発展に対する特性ドーズ量の抽出については、種々の平均イオンエネルギーに対して完了している。また、シリコン窒化膜における欠陥形成についても、分光エリプソメトリー解析のための光学モデルは完成した。(これらは国際学会にて発表済。)一方、確率過程モデルを適用した金属系抵抗薄膜における電子伝導機構解明は信頼性評価に実装でき、研究協力者のもとで実用化に至っている。また、マイクロ流体デバイスにおける分取に対する基本モデル構築およびデータ抽出は計画通り進捗している。

Strategy for Future Research Activity

種々の材料に対し、プラズマ曝露により形成される欠陥の動的振る舞いを予測するモデルの構築を目指し、実験データを継続して収集する。具体的には、単結晶シリコン基板については、欠陥形成に対する特性ドーズ量を用い、確率的過程から統計的過程への変遷について、確率過程に基づく数理モデルの構築を試みる。また、シリコン窒化膜についても、欠陥形成の時間発展を解析することで、絶縁膜中での確率過程に基づく構造変化を明らかにしてゆく。一方で、計算科学(古典的分子動力学法および第一原理計算)からのアプローチを進め、上記実験と並行して、欠陥の離散的形成過程や動的振る舞いの理論的検証のためのフレームワークを構成する。さらに、研究分担者とともに、整列における粒径や細胞形状が位置決めに与える影響を測定し、得られた位置に関する確率密度分布を求め時空間分布を考慮した数学的モデルの導出を目指す。これらの取り組みを通して、確率過程に基づいたナノ構造体における欠陥の動的振る舞いの予測手法を構築し、将来の欠陥制御型プロセス設計手法への応用展開を目指す。

Causes of Carryover

(理由)
データ抽出を優先し、平成29年度は実験データ収集のための真空部品(真空計)を購入した。そのため、平成29年度は実験用消耗品および上記真空計に予算を充当し、その他計算機PC購入は見送った。また、研究成果発表や学会参加のための出張旅費も、国内学会への旅費のみにとどめた。
(使用計画)
平成30年度以降は、計算機PCの追加購入と実験用消耗品、そして、成果発表のための論文印刷費に予算を充当する予定である。一方で、計算機PC用ソフトウエアや実験用消耗品の購入を優先するために、他の実験で利用している装置を有効活用できるかどうかを判断しながら、研究活動を進める予定である。

  • Research Products

    (11 results)

All 2017 Other

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (7 results) (of which Int'l Joint Research: 5 results,  Invited: 2 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Analytic Modeling for Nanoscale Resistive Filament Variation in ReRAM With Stochastic Differential Equation2017

    • Author(s)
      Z. Wei and K. Eriguchi
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electron Devices

      Volume: 64 Pages: 2201-2206

    • DOI

      10.1109/ted.2017.2681104

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] An evaluation method of the profile of plasma-induced defects based on capacitance-voltage measurement2017

    • Author(s)
      Yukimasa Okada, Kouichi Ono, and Koji Eriguchi
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 56 Pages: 06HD04

    • DOI

      10.7567/JJAP.56.06HD04

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Electrical characterization of carrier trapping behavior of defects created by plasma exposures2017

    • Author(s)
      Koji Eriguchi and Yukimasa Okada
    • Journal Title

      Journal of Physics D: Applied Physics

      Volume: 50 Pages: 26LT01

    • DOI

      10.1088/1361-6463/aa731a

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] A comprehensive analysis of progressive behavior of plasma-induced damage formation in Si substrates2017

    • Author(s)
      T. Hamano and K. Eriguchi
    • Organizer
      39th International Symposium on Dry Process: DPS2017
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Defect Generation in Si substrates during Plasma Processing2017

    • Author(s)
      K. Eriguchi
    • Organizer
      17th International Workshop on Junction Technology 2017
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Model prediction of stochastic effects of plasma-induced damage in advanced electronic devices2017

    • Author(s)
      K. Eriguchi
    • Organizer
      6th International Conference on Semiconductor Technology for Ultra Large Scale Integrated Circuits and Thin Film Transistors
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 誘電泳動力の時間空間制御によるマイクロ流路内流れでの粒子整列技術2017

    • Author(s)
      巽和也,川野光輝,榎坂武彦,栗山怜子,中部主敬
    • Organizer
      第64回理論応用力学講演会
  • [Presentation] Characterization technique of silicon nitride film damaged by plasma exposure”2017

    • Author(s)
      T. Kuyama and K. Eriguchi
    • Organizer
      39th International Symposium on Dry Process: DPS2017
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Prediction of electronic structure change induced by plasma processing: A first-principles study2017

    • Author(s)
      Y. Yoshikawa and K. Eriguchi
    • Organizer
      39th International Symposium on Dry Process: DPS2017
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 誘電泳動力によるマイクロ流路内流れにおける粒子の間隔と同期制御2017

    • Author(s)
      野間淳志,榎坂武彦,巽和也,栗山怜子,中部主敬
    • Organizer
      第30回バイオエンジニアリング講演会
  • [Remarks] 京都大学 航空宇宙工学専攻 推進工学分野 (江利口研)

    • URL

      http://www.propulsion.kuaero.kyoto-u.ac.jp/

URL: 

Published: 2018-12-17  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi