• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2019 Fiscal Year Annual Research Report

Development of countermeasure methods based on combinations of layered security against fault attacks by intentional electromagnetic interference(Fostering Joint International Research)

Research Project

Project/Area Number 16KK0006
Research InstitutionNara Institute of Science and Technology

Principal Investigator

林 優一  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)

Project Period (FY) 2017 – 2019
Keywords情報学 / 情報セキュリティ / サイドチャネル攻撃 / 故障利用解析 / 意図的電磁妨害
Outline of Annual Research Achievements

本研究では、暗号集積回路・実装攻撃・対策に関する世界的な権威であるIngrid Verbauwhede教授とVerbauwhede教授が所属するKU Leuven COSICのメンバが有する知見と研究代表者が有する電磁界計測及びシミュレーション技術・信号処理技術、及び物理レイヤの対策技術に関する知見を融合させ、「意図的な電磁妨害によるフォールト攻撃に対抗するレイヤ縦断型対策技術の開発」を目指している。本年度は以下2項目について重点的に研究を遂行した。

(1) 高精度な電磁界計測及びシミュレーションに基づく電磁妨害メカニズムの解明:これまで構築した評価環境に対する高精度な電磁界計測と電磁界シミュレーションの双方を用いて妨害電磁波の伝搬を高時間分解能で解析し、電磁妨害時に生ずる暗号モジュール及び乱数生成器のセキュリティ低下メカニズムを検討した。

(2) 意図的な電磁妨害により機器から生ずる情報漏えいリスク評価手法の確立と対策技術の開発:前項で得られたメカニズムに基づき、意図的な電磁妨害により暗号デバイスから発生する故障の種類の分類を行った。また、意図的な電磁妨害により暗号機器から生ずる情報漏えいのリスク評価手法を提案した。さらに、メカニズムに基づき、情報セキュリティ及び環境電磁工学両分野の知見を融合させ上位レイヤに実装されるアルゴリズムに依存しない対策技術の開発に取り組んだ。

  • Research Products

    (9 results)

All 2020 2019 2017

All Int'l Joint Research (1 results) Journal Article (5 results) (of which Int'l Joint Research: 4 results,  Peer Reviewed: 5 results) Presentation (3 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Invited: 1 results)

  • [Int'l Joint Research] KU Leuven(ベルギー)2017

    • Year and Date
      2017-09-07 – 2017-10-06 | 2017-10-132017-10-24 | 2017-11-022017-12-19 | 2018-01-042018-01-24 | 2018-02-092018-03-24 | 2018-05-202018-06-11 | 2019-01-032019-01-19 | 2019-06-122019-06-27 | 2020-01-022020-01-14
    • Country Name
      BELGIUM
    • Counterpart Institution
      KU Leuven
    • Co-investigator Overseas
      Ingrid Verbauwhede
    • Department
      ESAT
    • Job Title
      Professor
  • [Journal Article] Design Considerations for EM Pulse Fault Injection2020

    • Author(s)
      Beckers Arthur、Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi、Fujimoto Daisuke、Balasch Josep、Gierlichs Benedikt、Verbauwhede Ingrid
    • Journal Title

      International Conference on Smart Card Research and Advanced Applications. Springer

      Volume: 11833 Pages: 176~192

    • DOI

      https://doi.org/10.1007/978-3-030-42068-0_11

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Characterization of EM Faults on ATmega328p2019

    • Author(s)
      Arthur Beckers, Josep Balasch, Benedikt Gierlichs, Saki Osuka, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, Ingrid Verbauwhede
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Pages: 820-823

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Fundamental Study on Randomness Evaluation Method of RO-Based TRNG Using APD2019

    • Author(s)
      Saki Osuka, Daisuke Fujimoto, Naofumi Homma, Arthur Beckers, Josep Balasch, Benedikt Gierlichs, Ingrid Verbauwhede, Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Pages: 244-244

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Electromagnetic Information Security Demanded by Social Infrastructure Constructed by Information Devices2019

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi, William Radasky
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Pages: 788

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] A Method for Distinguishing Faulty Bytes in Cryptographic Device Using EM Information Leakage2019

    • Author(s)
      Mitsuki Takenouchi, Naoto Saga, Yuichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Pages: 669-669

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] TERO-based TRNGに対する周波数注入攻撃時の出力ビット推定手法に関する基礎検討2019

    • Author(s)
      大須賀 彩希, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
  • [Presentation] EM Information Leakage Threat Caused by Low-power IEMI and Hardware Trojan2019

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      The 2019 IEEE International Symposium on EMC+SIPI
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 順序回路への故障注入に起因した不均一な頻度分布を持つ誤り出力を用いた故障利用解析2019

    • Author(s)
      岡本拓実, 藤本大介, 崎山一男, 李 陽, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会

URL: 

Published: 2021-01-27  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi