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2008 Fiscal Year Final Research Report

Understanding the dynamic behavior of blistering on the semiconductor surface and its application for nanofabrication

Research Project

  • PDF
Project/Area Number 17560025
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

Allocation TypeSingle-year Grants
Section一般
Research Field Thin film/Surface and interfacial physical properties
Research InstitutionAichi Institute of Technology

Principal Investigator

IWATA Hiroyuki  Aichi Institute of Technology, 工学部・電気学科, 講師 (20261034)

Project Period (FY) 2005 – 2008
Keywords水素イオン注入 / スマートカット / 透過型電子顕微鏡 / ブリスタリング / 結晶欠陥
Research Abstract

水素イオンが高濃度に注入された半導体シリコンに発生する結晶欠陥の性状を透過型電子顕微鏡観察から評価し、加熱による表面薄膜切り出し後の形状との関連性を詳細に調べた。少量の異種イオンの照射を併用し、現象の低温化を明らかにした.
加熱前後の試料内水素分布と欠陥分布の変化を検出した. 事前に試料表面に溝加工を施し、その後加熱処理を行うことにより, ナノオーダ精度で瞬時にナノ構造物を大量に作製する手法の取り掛かりとなる基礎的データを得た.

  • Research Products

    (12 results)

All 2008 2007 2006 2005

All Journal Article (10 results) (of which Peer Reviewed: 5 results) Presentation (2 results)

  • [Journal Article] Effect of Impurity Co-implantation on Hydrogen Surface Exfoliation2008

    • Author(s)
      H.Iwata, M.Takagi, Y.Tokuda
    • Journal Title

      JAEA Takasaki Annual Report 2006 JAEA-Review 2007-060

      Pages: 150

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] TEM and HRTEM Observations of Microstructural Change of Silicon Single Crystal Scratched under Very Small Loading Forces by AFM Materials Transactions2008

    • Author(s)
      Makoto Takagi, Kenji Onodera, Akihito Matsumuro, Hiroyuki Iwata, Katsuhiro Sasaki and Hiroyasu Saka
    • Journal Title

      49

      Pages: 1298-1302

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effect of Impurity Co-implantation on Hydrogen Surface Blistering2008

    • Author(s)
      H.Iwata, M.Takagi, Y.Tokuda
    • Journal Title

      International Journal of Advanced Microscopy and TheoreticalCalculations 1

      Pages: 1262-263

  • [Journal Article] 水素ブリスタリングにおけるフッ素注入援用効果2008

    • Author(s)
      岩田博之、徳田豊、高木誠, 井村徹
    • Journal Title

      日本顕微鏡学会第61回学術講演会要旨集, 顕微鏡 Vol.40 Supplement 1

      Pages: 462

  • [Journal Article] 極微小電流計測型ナノプローブその場観察システムの開発2007

    • Author(s)
      岩田博之, 奥田東
    • Journal Title

      愛知工業大学総合技術研究所研究報告 9

      Pages: 47-52

  • [Journal Article] SPMを用いたSi単結晶のナノ加工と表面の構造変化2007

    • Author(s)
      吉田浩也, 松室昭仁, 岩田博之, 高木誠
    • Journal Title

      精密工学会誌 73

      Pages: 1149-1153

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effect of Boron Co-implantation on Hydrogen induced Exfoliation2006

    • Author(s)
      H.Iwata, Y.Tokuda, M.Takagi, T.Imura
    • Journal Title

      Proceedings of 16^<th> International Microscopy Congress 3

      Pages: 1352

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] RBS/Cを用いた水素イオン注入欠陥の評価2006

    • Author(s)
      岩田博之、清水孝延、横井久人、石神龍哉、伊藤慶文、徳田豊、高木誠
    • Journal Title

      総合技術研究所総合報告 8

      Pages: 77-80

  • [Journal Article] Impact toughness of an ingot hypereutectic Al-23 mass% Si alloy improved by rotary-die equal-channel angular pressing2005

    • Author(s)
      Aibin Ma, Kazutaka Suzuki, Naobumi Saito, Yoshinori Nishida, Makoto Takagi, Ichinose Shigematsu, Hiroyuki Iwata
    • Journal Title

      Material Science and Engineering A399

      Pages: 181-189

  • [Journal Article] Tensile property of an Al-11 mass%Si alloy at elevated temperatures processed by rotary-die equal-channel angular pressing2005

    • Author(s)
      Aibin Ma, Makoto Takagi, Naobumi Saito, Hiroyuki Iwata, Yoshinori Nishida, Kazutaka Suzuki, Ichinori Shigematsu
    • Journal Title

      Material Science and Engineering A408

      Pages: 147-153

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] SiC水素ブリスタリングの注入温度依存性2008

    • Author(s)
      岩田博之, 高木誠, 徳田豊
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • Place of Presentation
      京都国際会議場
    • Year and Date
      20080500
  • [Presentation] 光顕その場加熱観察によるSiC水素ブリスタリングの動的挙動2007

    • Author(s)
      岩田博之, 高木誠, 徳田豊
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • Place of Presentation
      新潟朱鷺メッセ
    • Year and Date
      20070500

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Published: 2010-06-10   Modified: 2016-04-21  

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