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2020 Fiscal Year Annual Research Report

Exploration on ultralow power system enabled by CMOS-compatible ferroelectric devices

Research Project

Project/Area Number 18H01489
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

小林 正治  東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 准教授 (40740147)

Project Period (FY) 2018-04-01 – 2021-03-31
Keywords強誘電体 / メモリ
Outline of Annual Research Achievements

本年度は研究題目「CMOSと整合性の高い強誘電体デバイスの集積化による超低消費電力システムの開拓」において材料、デバイス、応用に関する以下の研究成果を得ることができた。
①材料:本年度はHfO2系薄膜材料において強誘電性が発現する起源について、第一原理計算を用いてドーパントと界面エネルギー、そして温度の効果を取り入れることで、材料プロセスの一連の熱過程に沿った統一的なメカニズムを解明した。具体的にはドーパントと界面エネルギーにより高温時で正方晶のエネルギーが自由エネルギーが低下し核形成が起こり、その後低温にすることで強誘電体相へ遷移することを分子動力学法も併用して示した。
②デバイス:強誘電体HfO2をゲート絶縁膜とするFeFETメモリについて、3次元積層型メモリをシリコンチャネルで実現するためにGIDLを利用した効果的な消去方法を提案し実証した。さらにFeFETをより低電圧で書き込むために、強誘電体HfO2の結晶化に際して起こるSi界面層の形成を抑制する独自のゲート材料を導入し、2V以下でのメモリ動作の実証に成功した。
③応用:高密度強誘電体メモリの三次元積層化に向けて、強誘電体HfO2キャパシタを駆動するトランジスタとして高移動度の酸化物半導体チャネルトランジスタを用いることを提案し、実際にキャパシタとトランジスタを集積することで動作実証に成功、またデバイスモデリングとシミュレーションにより微細素子においてナノ秒動作の可能性を明らかにした。

Research Progress Status

令和2年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

令和2年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (22 results)

All 2021 2020 Other

All Journal Article (6 results) (of which Peer Reviewed: 6 results) Presentation (15 results) (of which Int'l Joint Research: 7 results,  Invited: 7 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Study on the Roles of Charge Trapping and Fixed Charge on Subthreshold Characteristics of FeFETs2021

    • Author(s)
      Jin C.、Su C. J.、Lee Y. J.、Sung P. J.、Hiramoto T.、Kobayashi M.
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electron Devices

      Volume: 68 Pages: 1304~1312

    • DOI

      10.1109/TED.2020.3048916

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Reliability characteristics of metal/ferroelectric-HfO2/IGZO/metal capacitor for non-volatile memory application2020

    • Author(s)
      Mo Fei、Saraya Takuya、Hiramoto Toshiro、Kobayashi Masaharu
    • Journal Title

      Applied Physics Express

      Volume: 13 Pages: 074005~074005

    • DOI

      10.35848/1882-0786/ab9a92

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Physical Mechanisms of Reverse DIBL and NDR in FeFETs With Steep Subthreshold Swing2020

    • Author(s)
      Jin Chengji、Saraya Takuya、Hiramoto Toshiro、Kobayashi Masaharu
    • Journal Title

      IEEE Journal of the Electron Devices Society

      Volume: 8 Pages: 429~434

    • DOI

      10.1109/JEDS.2020.2986345

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Low-Voltage Operating Ferroelectric FET with Ultrathin IGZO Channel for High-Density Memory Application2020

    • Author(s)
      Mo Fei、Tagawa Yusaku、Jin Chengji、Ahn MinJu、Saraya Takuya、Hiramoto Toshiro、Kobayashi Masaharu
    • Journal Title

      IEEE Journal of the Electron Devices Society

      Volume: 8 Pages: 717~723

    • DOI

      10.1109/JEDS.2020.3008789

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] A Monolithic 3-D Integration of RRAM Array and Oxide Semiconductor FET for In-Memory Computing in 3-D Neural Network2020

    • Author(s)
      Wu Jixuan、Mo Fei、Saraya Takuya、Hiramoto Toshiro、Kobayashi Masaharu
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electron Devices

      Volume: 67 Pages: 5322~5328

    • DOI

      10.1109/TED.2020.3033831

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] A first-principles study on ferroelectric phase formation of Si-doped HfO2 through nucleation and phase transition in thermal process2020

    • Author(s)
      Wu Jixuan、Mo Fei、Saraya Takuya、Hiramoto Toshiro、Kobayashi Masaharu
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 117 Pages: 252904~252904

    • DOI

      10.1063/5.0035139

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] A Monolithic 3D Integration of RRAM Array with Oxide Semiconductor FET for In-memory Computing in Quantized Neural Network AI Applications2020

    • Author(s)
      Jixuan Wu, Fei Mo, Takuya Saraya, Toshiro Hiramoto and Masaharu Kobayashi
    • Organizer
      VLSI Symposium on Technology
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Emerging Ferroelectric-HfO2 Based Device Technologies for Energy-Efficient Computing2020

    • Author(s)
      Masaharu Kobayashi
    • Organizer
      2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA)
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] IGZO Channel Ferroelectric Memory FET2020

    • Author(s)
      Masaharu Kobayashi
    • Organizer
      ACTIVE-MATRIXFLATPANEL DISPLAYS AND DEVICES (AM-FPD) 2020
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Reliability characteristics of Ferroelectric-HfO2 capacitor with IGZO capping for 3D structure non-volatile memory application2020

    • Author(s)
      Fei Mo, Saraya Takuya, Toshiro Hiramoto, Masaharu Kobayashi
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] A Simulation Study on the System Performance of Neural Networks using Embedded Nonvolatile Memory2020

    • Author(s)
      Paul Johansen, Masaharu Kobayash
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] 3D Integration of RRAM Array with Oxide Semiconductor FET for In-Memory Computing2020

    • Author(s)
      Jixuan Wu, Fei Mo, Saraya Takuya, Toshiro Hiramoto, Masaharu Kobayashi,
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] On the Physical Mechanism of Negative Capacitance Effect in Ferroelectric FET2020

    • Author(s)
      Masaharu Kobayashi
    • Organizer
      SISPAD 2020
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 3D Neural Network: Monolithic Integration of Resistive-RAM Array with Oxide-Semiconductor FET2020

    • Author(s)
      Masaharu Kobayashi, Jixuan Wu, Fei Mo, Takuya Saraya, Toshiro Hiramoto
    • Organizer
      ECS PRiME 2020
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Ferroelectric-HfO2 Devices: Physics and Applications2020

    • Author(s)
      Masaharu Kobayashi
    • Organizer
      ECS PRiME 2020
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 三次元ニューラルネットの実現に向けた抵抗変化型メモリと酸化物半導体トランジスタのモノリシック集積2020

    • Author(s)
      小林正治
    • Organizer
      NEDIA 第7回電子デバイスフォーラム京都
    • Invited
  • [Presentation] Emerging Ferroelectric Devices for Energy-Efficient Computing2020

    • Author(s)
      Masaharu Kobayashi,
    • Organizer
      Semicon Korea
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Reliability characteristics of Ferroelectric-HfO2 capacitor with IGZO capping for non-volatile memory application2020

    • Author(s)
      莫非, 更屋 拓哉, 平本 俊郎, 小林 正治
    • Organizer
      第68回応用物理学会学術講演会
    • Invited
  • [Presentation] 大容量低消費電力メモリ応用に向けたMoS2チャネルを有するHfO2系強誘電体トランジスタの実験実証2020

    • Author(s)
      項 嘉文, 張 文馨, 更屋 拓哉, 入沢 寿史, 平本 俊郎, 小林 正治
    • Organizer
      第68回応用物理学会学術講演会
  • [Presentation] Comparative Study on Memory Characteristics of Ferroelectric-HfO2 Transistors with Different Structure of Oxide-Semiconductor Channel2020

    • Author(s)
      FEI MO, Takuya Saraya, Toshiro Hiramoto, Masaharu Kobayashi
    • Organizer
      第68回応用物理学会学術講演会
  • [Presentation] A First-Principles Study on Ferroelectric Phase Formation of Si-Doped HfO22020

    • Author(s)
      Jixuan Wu, Fei Mo, Takuya Saraya, Toshiro Hiramoto, Masaharu Kobayashi
    • Organizer
      第68回応用物理学会学術講演会
  • [Remarks] 本研究室HP

    • URL

      https://nano-lsi.iis.u-tokyo.ac.jp/index.php/publications_j/archive_j/

URL: 

Published: 2021-12-27  

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