2008 Fiscal Year Annual Research Report
柔軟なディペンダビリティを実現する再構成可能集積回路の開発
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19300011
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| Research Institution | Osaka University |
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Principal Investigator |
尾上 孝雄 Osaka University, 大学院・情報科学研究科, 教授 (60252590)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
橋本 昌宜 大阪大学, 大学院・情報科学研究科, 准教授 (80335207)
密山 幸男 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 (80346189)
畠中 理英 大阪大学, 大学院・情報科学研究科, 助手 (70346188)
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| Keywords | ディペンダビリティ / 再構成可能集積回路 / ソフトエラー / 製造ばらつき / 冗長化 / 暗号化 / 自己診断 / 動作隠蔽 |
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| Research Abstract |
本研究では、アプリケーションや環境に応じて必要十分なディペンダビリティを有する回路の実現を可能とする再構成可能集積システムの構築に関する研究を行った。
本年は、(1)柔軟な信頼性が実現できる再構成可能アーキテクチャの考案と設計、(2)タイミング特性の動的性能補償技術、(3)性能補償のための基板バイアスクラスタリング方式、ならびに(4)オシレータサンプリング方式の性能評価モデル、について検討を行った。
(1)複数の機能セルをまとめてクラスタとし、クラスタ単位で冗長度や信頼性が柔軟に変更できる粗粒度再構成可能アーキテクチャを考案/実装し、ソフトエラー耐性や面積オーバーヘッドについて定量的に評価した。
(2)NBTIなどの経年劣化による遅延特性劣化に備え、タイミングエラー予告フリップフロップを用いた動的遅延変動検出による動的性能補償を考え、消費電力とタイミングエラーの関係を明らかにした。
(3)製造後の低コスト性能補償手法を考え、それを実現するためのレイアウトを考慮した基板バイアスクラスタリング手法を検討した。
(4)オシレータサンプリング方式真性乱数生成器について、乱数の品質の評価やその設計パラメータへの依存性を調査するための解析モデルを、マルコフモデルを用いて構築した。
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