2007 Fiscal Year Annual Research Report
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19740128
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
安部 航 The University of Tokyo, 宇宙線研究所, 助教 (30401285)
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| Keywords | 暗黒物質 / 液体キセノン / 宇宙線 / 宇宙物理 / 素粒子実験 |
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| Research Abstract |
本実験は液体キセノン中での真空紫外光の吸収長、散乱長、各測定器部材での反射率などの基本的な特性を精度よく測定を行うことで、これらのパラメーターを使用するXMASS実験におけるシミュレーションの精度を向上させることを目的としている。当該年度はキセノン中でのパラメーター測定に先立って、真空中における測定器部材の反射率測定と、キセノン中での不純物が及ぼす真空紫外光の吸収長への影響について調査を行った。真空中での反射率測定はキセノン中での反射率の測定データの理解とその測定精度め向上にとって重要な測定である。測定器内部の70%と最も大きな表面積をしめる光電子増倍管の窓に対して、20度から60度と角度を変えながち真空紫外光を入射させ、10〜16%の角度依存性をもつ反射率について、精度0.8%の高い精度で測定した。
その後測定系を液体キセノン中での吸収長、散乱長の測定が行えるように変更し、キセノン中での測定を開始した。測定では測定器部材からキセノンヘと溶出する不純物が吸収長に対して非常に大きな影響をもつことが判明した。この影響を正確に理解することは、シミュレーションの精度を左右する吸収長そのものの正確な測定にとっても重要であると同時に、XMASS実験の測定器の性能そのものにも大きな影響を及ぼすことからも、その理解が非常に重要である。そのため原因となっている溶出物質とその影響の大きさについての詳細な調査を行い、様々な条件でのデータの収集を行った。
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Research Products
(1 results)
