Facilitation of ion implantation through femtosecond-laser-induced modifications on diamond surface

2021 Fiscal Year Final Research Report

• Project/Area Number: 19K05033
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 26030:Composite materials and interfaces-related
• Research Institution: The University of Tokushima
• Principal Investigator: OKADA Tatsuya 徳島大学, 大学院社会産業理工学研究部(理工学域), 教授 (20281165)
• Project Period (FY): 2019-04-01 – 2022-03-31
• Keywords: フェムト秒レーザー / ダイヤモンド / イオン注入

Outline of Final Research Achievements

Femtosecond laser was irradiated on diamond surface to introduce modifications. Boron ions (B+) were implanted on the laser-modified surface at a high temperature (873 K) and at a room temperature. The B+ distribution in the depth direction was measured using a secondary ion mass spectroscopy (SIMS). Compared to the B+ concentration in the non laser-irradiated areas, the B+ concentration in the laser-irradiated areas was significantly higher. The B+ concentration ratio reached 6 in the non-irradiated areas and the value was about 10 in the laser-irradiated areas. This was presumably caused by point defects, e.g., vacancies and interstitial atoms, in the femtosecond-laser-modified areas.

Free Research Field

結晶材料学

Academic Significance and Societal Importance of the Research Achievements

ダイヤモンドは適切な不純物元素をドーピングすることにより半導体として振る舞う。ダイヤモンド半導体は特に，高温や放射線環境において正常に作動する半導体素子として期待されている。反面，イオン注入を用いてダイヤモンドに局所的ドーピングを行うと，アモルファス化が起こることが問題となっている。本研究の成果は，ダイヤモンド表面にフェムト秒レーザー照射を行って改質を導入し，その後にイオン注入を行えば，アモルファス化を起こさずに高濃度のイオン注入を行えることを示したものであり，ダイヤモンド半導体素子の実用化に向けて意義のある成果が得られたと考えている。