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2021 Fiscal Year Annual Research Report

Bond engineering for quantum dot formation in nitride semiconductors

Research Project

Project/Area Number 19K05268
Research InstitutionMie University

Principal Investigator

伊藤 智徳  三重大学, 工学研究科, 招へい教授 (80314136)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 秋山 亨  三重大学, 工学研究科, 准教授 (40362363)
Project Period (FY) 2019-04-01 – 2022-03-31
Keywords量子ドット形成機構 / 窒化物半導体 / 計算機シミュレーション
Outline of Annual Research Achievements

2021年度は本研究課題においてこれまでに得た知見をマクロ理論に取り込むことで、量子ドット形成機構ならびに量子ドット創成指針を明らかにすることを目標に検討を行った。具体的には表面エネルギーγ、転位エネルギー Ed、転位形成によるエネルギー緩和度αに注目、量子ドット形成の(1)面方位依存性(InAs/GaAs系)、(2)格子不整合度依存性(InGaN/GaN系)、(3)成長雰囲気依存性(GaN/AlN系)の支配因子を抽出し、(4)ヘテロエピタキシャル成長における量子ドット形成に向けた処方箋を提示した。
(1)面方位依存性:転位エネルギーEdが、量子ドットが形成される(001)方位において最大、形成されない(111)A方位で最小、界面緩和層導入で形成される(110)方位で中間値を示す系統性を見いだした。この系統性は表面再構成と密接に関連しており、表面でのひずみ緩和が小さい(001)方位が最大のEdをもたらす。以上からEdが面方位依存性の支配因子と考えられる。
(2)格子不整合度依存性:転位形成によるエネルギー緩和度αが、格子不整合度の増加に伴い増加し、量子ドット形成を容易にする傾向を明らかにした。したがってαが格子不整合度依存性の支配因子と考えられる。
(3)成長雰囲気依存性:量子ドット島上面の表面エネルギーγが、V族過剰雰囲気で増加、III族過剰雰囲気で著しく減少、その結果としてそれらの比が小さくなることが量子ドット形成の可否に寄与することを明らかにした。したがってγが成長雰囲気依存性の支配因子と考えられる。
(4)量子ドット形成の処方箋:量子ドット形成のためには、従来知られている(αの増加をもたらす)格子不整合度の大きい系の採用に加えて、表面でのひずみ緩和が抑制される表面再構成構造を出現させる(Edの増加をもたらす)成長条件の選択が重要である。

  • Research Products

    (19 results)

All 2022 2021

All Journal Article (5 results) (of which Peer Reviewed: 5 results) Presentation (14 results) (of which Int'l Joint Research: 5 results,  Invited: 1 results)

  • [Journal Article] Ab initio study for orientation dependence of nitrogen incorporation at 4H-SiC/SiO<sub>2</sub> interfaces2022

    • Author(s)
      Akiyama Toru、Shimizu Tsunashi、Ito Tomonori、Kageshima Hiroyuki、Chokawa Kenta、Shiraishi Kenji
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 61 Pages: SH1002~SH1002

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac5a96

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effect of surface structural change on adsorption behavior on InAs wetting layer surface grown on GaAs(001) substrate2021

    • Author(s)
      Akiyama Toru、Yonemoto Kazuhiro、Hishiki Fumiaki、Ito Tomonori
    • Journal Title

      Journal of Crystal Growth

      Volume: 570 Pages: 126233~126233

    • DOI

      10.1016/j.jcrysgro.2021.126233

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effect of step edges on the adsorption behavior on vicinal AlN(0001) surface during metal-organic vapor phase epitaxy: An ab initio study2021

    • Author(s)
      Akiyama Toru、Ohka Takumi、Nagai Katsuya、Ito Tomonori
    • Journal Title

      Journal of Crystal Growth

      Volume: 571 Pages: 126244~126244

    • DOI

      10.1016/j.jcrysgro.2021.126244

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effective approach for calculating individual energy of step edges on polar AlN(0001) and GaN(0001) surfaces2021

    • Author(s)
      Akiyama Toru、Nakatani Atsutaka、Shimizu Tsunashi、Ohka Takumi、Ito Tomonori
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 60 Pages: 080701~080701

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac1128

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Ab initio-based approach for the oxidation mechanisms at <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"><mml:msub><mml:mi>SiO</mml:mi><mml:mn>2</mml:mn></mml:msub></mml:math>/4H-SiC interface: Interplay of dry and wet oxidants during interfacial reaction2021

    • Author(s)
      Shimizu Tsunashi、Akiyama Toru、Ito Tomonori、Kageshima Hiroyuki、Uematsu Masashi、Shiraishi Kenji
    • Journal Title

      Physical Review Materials

      Volume: 5 Pages: 114601~114601

    • DOI

      10.1103/PhysRevMaterials.5.114601

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Ab initio-based approach for reaction process at 4H-SiC/SiO2 interfaces2022

    • Author(s)
      Toru Akiyama, T. Shimizu, Tomonori Ito, H. Kageshima, K. Shiraishi
    • Organizer
      2nd International Symposium on Wide Gap Semiconductor Growth, Process and Device Simulations
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] (AlxGa1-x)2O3混晶の構造安定性および混和性に関する理論的検討2022

    • Author(s)
      藤田楓理, 秋山亨, 河村貴宏, 伊藤智徳
    • Organizer
      第69回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] 第一原理計算に基づくAlN(0001)表面上のGaN層の構造安定性評価2022

    • Author(s)
      足道悠, 秋山亨, 伊藤智徳
    • Organizer
      第69回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] 4H-SiC/SiO2界面での窒素酸化物およびアンモニアの反応機構の理論的検討2022

    • Author(s)
      秋山亨, 清水紀志, 伊藤智徳, 影嶋博之, 白石賢二
    • Organizer
      第69回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] GaN(0001)基板上に形成するGa2O3膜の構造安定性の理論解析: 膜厚依存性の検討2022

    • Author(s)
      日紫喜文昭, 秋山亨, 河村貴宏, 伊藤智徳
    • Organizer
      第69回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] 窒化物半導体におけるピラミッド型インバージョンドメイン形成の理論解析2022

    • Author(s)
      仁木克英, 秋山亨, 伊藤智徳
    • Organizer
      第69回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] An ab initio-based approach for the formation of pyramidal inversion domain boundaries in highly Mg-doped GaN2021

    • Author(s)
      Katsuhide Niki, Toru Akiyama, and Tomonori Ito
    • Organizer
      2021 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Structures and stability of GaN/Ga2O3 interfaces: a first-principles study2021

    • Author(s)
      Fumiaki Hishiki, Toru Akiyama, Takahiro Kawamura, and Tomonori Ito
    • Organizer
      2021 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Direct approach for calculating individual energy of step edges on polar AlN(0001) and GaN(0001) surfaces using density functional calculations2021

    • Author(s)
      Toru Akiyama, Atsutaka Nakatani, Tsunashi Shimizu, Takumi Ohka, Tomonori Ito
    • Organizer
      International Conference on Materials and Systems for Sustainability
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Ab initio Study for Orientation Dependence of Nitrogen Incorporation at 4H-SiC/ SiO2 Interfaces2021

    • Author(s)
      Toru Akiyama, Tsunashi Shimizu, Tomonori Ito, Hiroyuki Kageshima, Kenta Chokawa, Kenji Shiraishi
    • Organizer
      2021 International Workshop on “Dielectric Thin Films for Future ULSI Devices: Science and Technology
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 界面エネルギー計算に基づく高濃度Mg添加GaNにおけるピラミッド型インバージョンドメイン形成の評価2021

    • Author(s)
      仁木克英, 秋山亨, 伊藤智徳
    • Organizer
      第82回 応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] 第一原理計算によるGaN/β-Ga2O3界面構造の理論解析2021

    • Author(s)
      日紫喜文昭, 秋山亨, 河村貴宏, 伊藤智徳
    • Organizer
      第82回 応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] 第一原理計算によるAlN(0001)およびGaN(0001)表面でのステップ形成エネルギーの評価2021

    • Author(s)
      秋山亨, 中谷淳嵩, 清水紀志, 相可拓巳, 伊藤智徳
    • Organizer
      第82回 応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] 4H-SiC/SiO2界面での窒素取り込みの面方位依存性に関する理論検討2021

    • Author(s)
      秋山亨, 清水紀志, 伊藤智徳, 影嶋博之, 白石賢二
    • Organizer
      第82回 応用物理学会秋季学術講演会

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Published: 2022-12-28  

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