Study of Design for Trust for Field Test of Connected Devices

2022 Fiscal Year Final Research Report

• Project/Area Number: 19K11878
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 60040:Computer system-related
• Research Institution: Ehime University
• Principal Investigator: Takahashi Hiroshi 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654) ; 王 森レイ 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (90735581)
• Project Period (FY): 2019-04-01 – 2023-03-31
• Keywords: フィールドテスト / つながるデバイス / 信頼性強化設計法

Outline of Final Research Achievements

In order to realize Society 5.0, the devices (the integrated circuits) must be made highly reliable, based on the premise that they are connected. Faults and infringements reduce the reliability of the integrated circuits. In this study, we propose a non-destructive method to detect faults by the built-in self-test as a field test and a method to execute the field test safely as “Design for Trust”.

Free Research Field

計算機システム

Academic Significance and Societal Importance of the Research Achievements

本研究の成果は，つながることを前提としたデバイス（集積回路）の高信頼化において意義がある。具体的には，つながるデバイスの市場稼働時において高信頼性を保証するために，フェイールドテストやセキュアーなテスト環境の構築ができる信頼性強化設計法を提案したことである。この研究の社会的が意義は，つながるデバイスの信頼性を向上するための基盤技術を確立できたことである。また研究成果の学術的な意義は，車載システムのフィールドテストの実現およびエッジデバイスのセキュリティ強化の実現など競争的な研究領域においても，研究の新規性・有効性が評価され，当該分野で権威のある論文誌などに採択されたことである。