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2010 Fiscal Year Annual Research Report

モンテカルロ法にもとづくタイミング解析高速化の研究

Research Project

Project/Area Number 22360143
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

佐藤 高史  京都大学, 情報学研究科, 教授 (20431992)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 越智 裕之  京都大学, 情報学研究科, 准教授 (40264957)
筒井 弘  京都大学, 情報学研究科, 助教 (30402803)
Keywords集積回路設計 / 電子回路CAD / タイミング解析 / モンテカルロ法
Research Abstract

今年度は主として、モンテカルロ法による統計的タイミング解析高速化の基盤となる、タイミング解析手法のアルゴリズム、およびばらつきモデルの基礎検討を行った。1)タイミング解析アルゴリズムに関しては、複数の実現手法を比較検討し、まずは最もシンプルな形態の一つである、回路の最遅到着時間の伝搬をFPGA上にタイミンググラフの構造通りに実現する方法、を考案しその性能を評価した。この実現方法では、タイミンググラフ上を伝播させる最遅到着時間の計算が、グラフの各節点について並列に、かつパイプライン的に実行できる。この結果、小規模な回路では、ソフトウェア実装と比較して87倍の高速化が可能であるとの見込みを得ている。一方でこの手法の評価を通じて、乱数発生器の実装が計算効率と解析可能な回路規模を制約する主要因であることが明らかとなった。ハードウェアの並列性を最大限に活用しつつ解析規模を拡大する手法を検討することが今後の重要な課題の一つとなる。ハードウェア実装時の設計空間探索等についても基礎的な検討を行った。2)ばらつきモデルに関しては、トランジスタのしきい値等の特性ばらつき量を測定により把握する方法について検討した。特に、リングオシレータ回路を用いる測定方法は、ディジタル回路のみを用いて面積効率よくばらつき測定が実現できることから、今後、多くの回路に組み込まれ、タイミング解析結果と合わせて回路性能の向上へ活用されていくことが期待される。温度変動など非理想的な環境要因がばらつき量の測定に与える影響を考慮して測定精度を向上する方法を提案し、またばらつきにより変化する回路のタイミングを、実測に基づいて確認するための基礎データを得た。

  • Research Products

    (12 results)

All 2011 2010

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (10 results)

  • [Journal Article] Linear time calculation of on-chip power distribution network capacitance considering state-dependence2010

    • Author(s)
      Shiho Hagiwara, Koh Yamanaga, Ryo Takahashi, Kazuya Masu, Takashi Sato
    • Journal Title

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      Volume: Vol.E93-A, No.12 Pages: 2409-2416

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Reliability evaluation environment for exploring design space of coarse-grained reconfigurable architectures2010

    • Author(s)
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • Journal Title

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      Volume: Vol.E93-A, No.12 Pages: 2524-2532

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] A transistor-array for parallel BTI-effects measurements2011

    • Author(s)
      Takumi Uezono, Tadamichi Kozaki, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • Organizer
      Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
    • Place of Presentation
      San Jose, USA
    • Year and Date
      2011-11-11
  • [Presentation] 混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用2011

    • Author(s)
      萩原汐, 伊達貴徳, 上薗巧, 益一哉, 佐藤高史
    • Organizer
      情報処理学会第148回システムLSI設計技術研究会
    • Place of Presentation
      沖縄県 宮古島
    • Year and Date
      2011-03-18
  • [Presentation] A fully pipelined implementation of Monte Carlo based SSTA on FPGAs2011

    • Author(s)
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • Organizer
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED)
    • Place of Presentation
      Santa Clara, USA
    • Year and Date
      2011-03-16
  • [Presentation] Small delay and area overhead process parameter estimation through path-delay inequalities2010

    • Author(s)
      Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • Organizer
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • Place of Presentation
      Paris, France
    • Year and Date
      20100530-20100602
  • [Presentation] Path clustering for adaptive test2010

    • Author(s)
      Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • Organizer
      IEEE VLSI test symposium (VTS)
    • Place of Presentation
      Santa Cruz, USA
    • Year and Date
      20100419-20100422
  • [Presentation] Sequential importance sampling for low-probability and high-dimensional SRAM yield analysis2010

    • Author(s)
      Kentaro Katayama, Shiho Hagiwara, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • Organizer
      ACM/IEEE International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
    • Place of Presentation
      San Jose, USA
    • Year and Date
      2010-11-11
  • [Presentation] リングオシレータによるしきい値簡易測定の温度依存性の検討2010

    • Author(s)
      上薗巧, 越智裕之, 佐藤高史
    • Organizer
      電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会(VLD)
    • Place of Presentation
      京都府 京都工芸繊維大学
    • Year and Date
      2010-09-28
  • [Presentation] A routing architecture exploration for coarse-grained reconfigurable architecture with an automation of SEU-tolerance evaluation2010

    • Author(s)
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • Organizer
      23rd IEEE International SOC Conference (SOCC)
    • Place of Presentation
      Las Vegas, USA
    • Year and Date
      2010-09-28
  • [Presentation] A tool chain for generating SEU-vulnerability map for coarse-grained reconfigurable architecture2010

    • Author(s)
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • Organizer
      The 25th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC)
    • Place of Presentation
      Bangkok, Thai
    • Year and Date
      2010-07-06
  • [Presentation] Decomposition of drain-current variation into gain-factor and threshold voltage variations2010

    • Author(s)
      Takashi Sato, Takumi Uezono, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu
    • Organizer
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • Place of Presentation
      Paris, France
    • Year and Date
      2010-05-31

URL: 

Published: 2012-07-19  

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