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2012 Fiscal Year Annual Research Report

モンテカルロ法にもとづくタイミング解析高速化の研究

Research Project

Project/Area Number 22360143
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

佐藤 高史  京都大学, 情報学研究科, 教授 (20431992)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 越智 裕之  京都大学, 情報学研究科, 准教授 (40264957)
筒井 弘  京都大学, 情報学研究科, 助教 (30402803)
Project Period (FY) 2010-04-01 – 2013-03-31
Keywords集積回路設計技術 / タイミング解析 / モンテカルロ法
Research Abstract

今年度は、タイミング解析に関連する統計的モデルの改善と、統計的タイミング解析のさらなる効率化に取り組んだ。
統計的モデルに関しては、低電源電圧環境において特にトランジスタの特性変動が大きくなり、結果としてタイミング等の回路特性が大きく変動する点に着目して、その安定的動作範囲の解析手法を開発した。単体デバイスと要素回路の統計的な特性変動を効率よく取得可能とする回路を新たに設計し、65nmプロセスを用いて試作することにより、回路の特性変動を具体的に求め、解析手法の有効性を実測データと照合した。回路中の基本論理素子であるフリップフロップ(FF)回路が特にばらつきに弱いことに着目して考案した、FFのばらつきから回路全体の特性を予測するモデルが、実測結果をよく説明することを示した。本検討により、低電源電圧下での回路全体の特性の正確な推定が可能となっている。
統計的タイミング解析の効率化に関しては、昨年度までに基本構想作成が完了していたモンテカルロ型解析手法の高ハードウェア実装についての性能評価を行い、既存手法に対して10倍以上の解析速度が実現できていることを確認した。また、任意遅延分布を正確に扱える自由度を残しつつさらなる高速化を狙い、遅延サンプルの頻度分布を伝搬させるヒストグラム伝搬方式のタイミング解析手法を開発した。テストプログラムの評価により、ヒストグラム伝搬方式では、回路トポロジー(分岐ノードと再収斂ノードの存在)により発生する遅延時間の相関を正確に考慮するためには、分岐ノード数の指数時間がかかる課題があることを明らかとした。現実的な計算時間で扱える分岐ノード数は高々数個であることから、分岐ノードの重要性を近似的に評価する手法を開発した。モンテカルロ法に対して、数%から10%程度の許容できる誤差に抑えつつ、大幅な高速化が可能となった。

Current Status of Research Progress
Reason

24年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (22 results)

All 2013 2012

All Journal Article (6 results) (of which Peer Reviewed: 6 results) Presentation (16 results)

  • [Journal Article] Parallel Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA using Generalized STA Processing Element2013

    • Author(s)
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato
    • Journal Title

      IEICE Transactions on Electronics

      Volume: Vol.E96-C, No.4 Pages: 473-481

    • DOI

      DOI:10.1587/transele.E96.C.473

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Device-Parameter Estimation Through IDDQ Signatures2013

    • Author(s)
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • Journal Title

      IEICE Transactions on Information and Systems

      Volume: Vol.E96-D, No.2 Pages: 303-313

    • DOI

      DOI:10.1587/transinf.E96.D.303

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] A cost-effective selective TMR for coarse-grained reconfigurable architectures based on DFG-level vulnerability analysis2013

    • Author(s)
      Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato
    • Journal Title

      IEICE Transactions on Electronics

      Volume: Vol.E96-C, No.4 Pages: 454-462

    • DOI

      10.1587/transele.E96.C.454

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Powerdistribution network optimization for timing improvement with statistical noise model and timing analysis2012

    • Author(s)
      Takashi Enami, Takashi Sato, and Masanori Hashimoto
    • Journal Title

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      Volume: Vol.E95-A, No.12 Pages: 2261-2271

    • DOI

      DOI:10.1587/transfun.E95.A.2261

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Bayesian estimation of multi-trap RTN parameters using Markov Chain Monte Carlo method2012

    • Author(s)
      Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato
    • Journal Title

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      Volume: Vol.E95-A, No.12 Pages: 2272-2283

    • DOI

      10.1587/transfun.E95.A.2272

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] A variability-aware energy-minimization strategy for subthreshold circuits2012

    • Author(s)
      Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato
    • Journal Title

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      Volume: Vol.E95-A, No.12 Pages: 2242-2250

    • DOI

      10.1587/transfun.E95.A.2242

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討2013

    • Author(s)
      岡崎 剛, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • Organizer
      電子情報通信学会 総合大会
    • Place of Presentation
      岐阜大学,岐阜市
    • Year and Date
      20130319-20130322
  • [Presentation] Evaluation of dependent node selection of histogram propagation based statistical timing analysis2013

    • Author(s)
      Shiyi Zhang, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • Organizer
      電子情報通信学会 総合大会
    • Place of Presentation
      岐阜大学,岐阜市
    • Year and Date
      20130319-20130322
  • [Presentation] 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較2013

    • Author(s)
      藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • Organizer
      電子情報通信学会 総合大会
    • Place of Presentation
      岐阜大学,岐阜市
    • Year and Date
      20130319-20130322
  • [Presentation] Multi-trap RTN parameter extraction based on Bayesian inference2013

    • Author(s)
      Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • Organizer
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • Place of Presentation
      Techmart Center, Santa Clara, USA
    • Year and Date
      20130304-20130306
  • [Presentation] オンラインテストを指向したIDDQ電流しきい値決定手法の検討2013

    • Author(s)
      新谷 道弘, 佐藤 高史
    • Organizer
      電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会
    • Place of Presentation
      沖縄青年会館,那覇市
    • Year and Date
      20130303-20130306
  • [Presentation] Realization of frequency-domain circuit analysis through random walk2013

    • Author(s)
      Tetsuro Miyakawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • Organizer
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • Place of Presentation
      Pacifico Yokohama, Yokohama
    • Year and Date
      20130122-20130125
  • [Presentation] An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation2013

    • Author(s)
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • Organizer
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • Place of Presentation
      Pacifico Yokohama, Yokohama
    • Year and Date
      20130122-20130125
  • [Presentation] チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価2012

    • Author(s)
      川島 潤也, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • Organizer
      電子情報通信学会 ICD研究会
    • Place of Presentation
      東京工業大学大岡山キャンパス 東工大蔵前会館ロイアルブルーホール ,東京都
    • Year and Date
      20121217-20121218
  • [Presentation] Accurate I/O Buffer Impedance Self-Adjustment using Vth and Temperature Sensors2012

    • Author(s)
      Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • Organizer
      デザインガイア
    • Place of Presentation
      九州大学医学部百年講堂,福岡市
    • Year and Date
      20121126-20121128
  • [Presentation] Statistical Aging under dynamic voltage scaling: A logarithmic model approach2012

    • Author(s)
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Ketul B. Sutaria, Hirofumi Shimizu, Hiromitsu Awano, Takashi Sato and Yu Cao
    • Organizer
      IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
    • Place of Presentation
      DoubleTree Hotel San Jose, San Jose, USA
    • Year and Date
      20120909-20120912
  • [Presentation] 情報量規準を用いる RTN モデルパラメータ推定の自動化2012

    • Author(s)
      清水裕史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • Organizer
      DA シンポジウム
    • Place of Presentation
      ホテル下呂温泉水明館,下呂市
    • Year and Date
      20120829-20120830
  • [Presentation] 回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討2012

    • Author(s)
      川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史
    • Organizer
      回路とシステムワークショップ
    • Place of Presentation
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • Year and Date
      20120730-20120731
  • [Presentation] クリロフ部分空間法を用いた電源回路網解析の GPU 実装による高速化2012

    • Author(s)
      森下 拓海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • Organizer
      回路とシステムワークショップ
    • Place of Presentation
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • Year and Date
      20120730-20120731
  • [Presentation] Physics matters: statistical aging prediction under trapping/detrapping2012

    • Author(s)
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • Organizer
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • Place of Presentation
      Moscone Center, San Francisco, USA
    • Year and Date
      20120603-20120607
  • [Presentation] A Bayesian-based process parameter estimation using IDDQ current signature2012

    • Author(s)
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • Organizer
      IEEE VLSI test symposium (VTS)
    • Place of Presentation
      Hyatt Maui, Hawaii, USA
    • Year and Date
      20120423-20120426
  • [Presentation] Aging statistics based on trapping/detrapping: silicon evidence, modeling and long-term prediction2012

    • Author(s)
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
    • Place of Presentation
      Hyatt Regency Orange County, Anaheim, USA
    • Year and Date
      20120415-20120419

URL: 

Published: 2014-07-24  

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