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2011 Fiscal Year Annual Research Report

窒化ガリウムを用いた細胞培養監視用pHセンサの開発

Research Project

Project/Area Number 22560332
Research InstitutionThe University of Tokushima

Principal Investigator

敖 金平  徳島大学, 大学院・ソシオテクノサイエンス研究部, 准教授 (40380109)

KeywordspHセンサ / AlGaN/GaNヘテロ構造 / 窒化ガリウム / 耐環境 / 細胞培養 / GaN MOSFET
Research Abstract

今年度では、高感度、耐環境のpHセンサとした目標を達するために、デバイス再設計、プロヤス最適化、デバイスの評価とメカニズムの解明を行った。(1)pHセンサ素子を再設計し、デバイスを試作した。耐強酸、耐強アルカリのポリイミド保護膜を採用した。AlGaN/GaN HFETのエピ構造では、AlGaN中Alの組成が違い、またi-GaN、n-GaN、p-GaNの薄い表面層を持つAlGaN/GaN HFET pHセンサを試作した。(2)測定ホルダーを見直し、オープンゲートのセンサ部分以外の保護膜も検討した。それにより溶液リーク電流が低減したことを確認した。(3)pHセンサでpH依存性を正確に測定するため、安定なpH値を持つ3種類の緩衝溶液(pH2.43、pH4.82、pH9.58)を配制し、pHセンサの特性評価を行った。電流-電圧特性については通常のHFETと同様の特性が得られた。往復で測定する際にヒステリシスのような現象も観察した。この原因はドレインバイアスが上がっていくことにより、ムイナスイオンが半導体表面に集中しチャネル抵抗が上がったためだと考えられる。また、pH値を増加させるとしきい値電圧を正方向にシフトすることも確認できた。作用電極で測った溶液中のリーク電流は弱塩基、強酸、弱酸の順で低くなった傾向が見られた。pH間におけるしきい値電圧の平均変化量は53.1mV/pHとなり、室温での琿想値59.54mV/pHに近い値が得られた。(4)溶液中のリーク電流は半導体表面に依存することも確認した。このメカニズムを解明しようと溶液と半導体表面における電気化学反応の実験を行っている。(5)GaN結晶上に細胞培養を行い、GaN上に細胞の培養ができたことを確認した。細胞培養環境の実時間あるいは経時的に監視方法への応用に向けて自動測定プログラムを開発している。(5)シリコンISFETのようなGaNMOS型pHセンサを試すため、GaNMOSFETの研究を行うた。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

溶液中リークはかなり流れていたので、センサ保護膜の選定、実装方法の検討には予想より時間をかかった。そのため、高温測定や細胞培養環境監視測定には遅れている。

Strategy for Future Research Activity

予定のとおり進めたいと思う。

  • Research Products

    (6 results)

All 2013 2012 2011

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (4 results)

  • [Journal Article] Thermally stable TiN Schottky contact on AlGaN/GaN heterostructure2013

    • Author(s)
      Jin-Ping Ao, Yoshiki Naoi, Yasuo Ohno
    • Journal Title

      Vacuum

      Volume: vol. 87, No. 1 Pages: 150-154

    • DOI

      DOI:10.1016/j.vacuum.2012.02.038

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] GaN MOSFET with a gate SiO_2 insulator deposited by silane-based plasma-enhanced chemical vapor deposition2011

    • Author(s)
      Jin-Ping Ao, et al
    • Journal Title

      Phys.Status Solidi C

      Volume: 8 Pages: 457-460

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] GaN MOSFET電気特性へのチャネルリセスエッチングの影響2012

    • Author(s)
      玉井健太郎, et al
    • Organizer
      2012年春季第59回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      早稲田大学(東京都)
    • Year and Date
      2012-03-17
  • [Presentation] Characterization of GaN MOSFETs on AlGaN/GaN Heterostructure2012

    • Author(s)
      Qingpeng Wang, et al
    • Organizer
      2012年春季第59回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      早稲田大学(東京都)
    • Year and Date
      2012-03-17
  • [Presentation] Influence of Dry Recess Process on Enhancement-mod GaN MOSFET2012

    • Author(s)
      Qingpeng Wang
    • Organizer
      4th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Application for Nitrides and Nanomaterials
    • Place of Presentation
      中部大学(愛知県)
    • Year and Date
      2012-03-07
  • [Presentation] Thermally Stable TiN Schottky Contact on AlGaN/GaN Heterostructure2011

    • Author(s)
      Jin-Ping Ao, et al
    • Organizer
      The 11th International Symposium on Sputtering & Plasma Processes
    • Place of Presentation
      京都リサーチパーク(京都府)
    • Year and Date
      2011-07-08

URL: 

Published: 2013-06-26  

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