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2011 Fiscal Year Annual Research Report

液中環境におけるナノスケール表面電荷分布計測

Research Project

Project/Area Number 22686007
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

小林 圭  京都大学, 産官学連携本部, 助教 (40335211)

Keywords原子間力顕微鏡 / カンチレバー / 溶液環境
Research Abstract

ダイナミックモードAFMでは、カンチレバーの励振にしばしば圧電素子が用いられるが、液中ではカンチレバーのQ値が低いために、溶液セルの機械振動の誘発や、カンチレバー/ホルダー界面の振動伝達関数の影響から、スプリアス(余計な)ピークが現れる。これにより、カンチレバーの見かけ上のQ値が向上してしまい、周波数変調方式AFM(FM-AFM)において、保存力と散逸力の分離が困難となるだけでなく、それぞれの定量的計測を妨げることを明らかにした。また、この問題に対し、強度変調レーザ光を用いた光熱励振系を構築することで、カンチレバーに理想的な周波数応答特性を持たせることに成功し、FM-AFM測定前にカンチレバーの励振特性を事前に測定しておくことで、定量的な保存力と散逸力を測定できることを示した。一方、従来、真空中や大気中の表面電荷計測法として用いられてきたケルビンプローブ原子間力顕微鏡(KFM)や静電気力顕微鏡(EFM)と同様に変調電圧を探針-試料間に印加した場合にカンチレバーの各部位に誘起される表面張力・静電気力を解析したところ、探針先端にはたらく相互作用力が非常に小さく、カンチレバーにはたらく力が支配的となることが示された。そのため、電解質溶液中でのナノスケール電荷分布計測には従来のKFMやEFMは利用できないことが分かった。一方、3次元フォースマップ法を用いて、電気二重層力を評価できることが分かった。また、DLVO理論との比較により、表面の電荷密度を推定できることも明らかとなった。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

当初の計画通り、液中で動作するFM-AFMにおける相互作用力のうち、保存力と散逸力を切り分けて精密に評価する技術を確立した。また、変調電圧の印加による液中KFM・EFMの動作が困難であることが分かったが、電気二重層力の評価によって試料表面の電荷密度を見積もることが可能であることを見出した。

Strategy for Future Research Activity

今年度は、固液界面の三次元空間上の各点においてカンチレバーの周波数シフトもしくは散逸エネルギーを検出する三次元フォースマップ法を用いて電気二重層力の分布を評価し、そこから電荷密度を算出する方法について検討する。

  • Research Products

    (10 results)

All 2012 2011

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (5 results) Patent(Industrial Property Rights) (2 results)

  • [Journal Article] Atomic-Resolution Imaging of Graphite-Water Interface by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy2011

    • Author(s)
      K. Suzuki, N. Oyabu, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • Journal Title

      Appl. Phys. Express

      Volume: 4

    • DOI

      DOI:10.1143/APEX.4.125102

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Comparison of photo thermal and piezoacoustic excitation methods for frequency and phase modulation atomic force microscopy in liquid environments2011

    • Author(s)
      A.Labuda, K.Kobayashi, D.Kiracofe
    • Journal Title

      AIP Advances

      Volume: 1 Pages: 022136/1-022136/1

    • DOI

      10.1063/1.3601872

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Modification of a commercial atomic force microscopy for low-noise, high-resolution frequency-modulation imageing in liquid environment2011

    • Author(s)
      S.Rode, R.Stark, J.Lubbe, L.Troger, J.Schutte, K.Umeda, K.Kobayashi, H.Yamada, A.Kuhule
    • Journal Title

      Review of Scientific Instruments

      Volume: 82 Pages: 073703/1-073703/

    • DOI

      10.1063/1.3606399

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Quantitative study of local electric double layer force by FM-AFM in aqueous solutions2012

    • Author(s)
      Ken-ichi Umeda, Yoshiki Hirata, Noriaki Oyabu, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirfumi Yamada
    • Organizer
      14th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy
    • Place of Presentation
      Lindau, Germany
    • Year and Date
      2012-09-17
  • [Presentation] FM-AFMによる界面活性剤分子集合体上の電気二重層可視化および界面電荷分布の評価2012

    • Author(s)
      鈴木一博,大藪範昭,小林圭,松重和美,山田啓文
    • Organizer
      第59回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      早稲田大学
    • Year and Date
      2012-03-17
  • [Presentation] 3次元フォースマッピング法によるカチオン性界面活性剤分子集合体上の電気二重層力評価2012

    • Author(s)
      伊藤史晃,鈴木一博,大藪範昭,小林圭,松重和美,山田啓文
    • Organizer
      第59回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      早稲田大学
    • Year and Date
      2012-03-17
  • [Presentation] 液中動作周波数変調AFMにおけるエネルギー散逸像コントラストの起源の解明2012

    • Author(s)
      梅田健一,平田芳樹,大藪範昭,小林圭,松重和美,山田啓文
    • Organizer
      第59回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      早稲田大学
    • Year and Date
      2012-03-17
  • [Presentation] FM-AFMを用いた局所電荷分布計測技術の開発に向けたコロイダルプローブによる電気二重層力検出2011

    • Author(s)
      梅田健一, 平田芳樹, 大藪範昭, 小林圭, 松重和美, 山田啓文
    • Organizer
      第72回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      山形大学
    • Year and Date
      2011-09-01
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 原子間力顕微鏡におけるカンチレバー励振方法及び原子間力顕微鏡2011

    • Inventor(s)
      粉川良平, 大田昌弘, 梅田健一, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
    • Industrial Property Rights Holder
      株式会社島津製作所
    • Industrial Property Number
      特願2011-190980
    • Filing Date
      2011-09-01
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 原子間力顕微鏡を用いた誘電特性測定方法2011

    • Inventor(s)
      粉川良平, 大田昌弘, 梅田健一, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
    • Industrial Property Rights Holder
      株式会社島津製作所
    • Industrial Property Number
      特願2011-190981
    • Filing Date
      2011-09-01

URL: 

Published: 2013-06-26  

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