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2023 Fiscal Year Annual Research Report

サイドチャネル攻撃に高い耐性を持つマルチコアIoTデバイスのソフトウェア基盤

Research Project

Project/Area Number 22K21276
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

西川 広記  大阪大学, 大学院情報科学研究科, 助教 (90963538)

Project Period (FY) 2022-08-31 – 2024-03-31
Keywordsハードウェア・セキュリティ攻撃 / サイドチャネル攻撃
Outline of Annual Research Achievements

本研究では、インターネットに接続される小型デバイス(IoTデバイス)のセキュリティ強化を目的として、情報を安全に保護するための新しい対策を検討した。具体的には、CやC++といったプログラミング言語からデジタル回路に自動で変換する高位合成技術を用いてFPGA上に設計されたAES回路の安全性を評価した。当該研究では、異なるクロック周期を持つ7つのAES回路を設計し、そのサイドチャネル漏洩量を評価した。この研究ではAESの回路クロック周期と電力サンプリング間隔の関係に着目し、これらがサイドチャネル情報の漏えいに対してどのような影響を及ぼすかを実験的に明らかにした。実験結果から、クロック周期とサンプリング間隔は、サイドチャネル情報の漏えい量において相互干渉しないことが明らかとなった。
また、別の研究として、CPU上で動作するAESにおいて、暗号化の際にデータをランダムに配置するシャッフリング技術を応用し、拡張した。従来のシャッフリング技術は、AESにおけるS-Box関数の実行順序を単にランダム化するのみで、組合せが非常に少なく、容易に暗号鍵の特定が為されていた。しかし本研究で提案するシャッフリング技術は、S-Box関数を実行する際に実行順序をランダム化するだけでなく、マスキングを複数回冗長的に行うことで組合せ爆発を起こし、暗号鍵の解析を困難にしている。実験結果から、前述した処理を追加したことにより約1.12倍の実行時間増大となったが、従来のシャッフリングに比べて暗号鍵の解読が困難になることを確認した。

  • Research Products

    (9 results)

All 2024 2023

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (6 results) (of which Int'l Joint Research: 4 results)

  • [Journal Article] Timing Issues on Power Side-Channel Leakage of AES Circuits Designed by High-Level Synthesis2024

    • Author(s)
      Yuto Miura, Hiroki Nishikawa, Xiangbo Kong, Hiroyuki Tomiyama,
    • Journal Title

      International Journal of Reconfigurable and Embedded Systems (IJRES)

      Volume: - Pages: -

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Side channel power analysis resistance evaluation of masked adders on FPGA2023

    • Author(s)
      Zhao Yilin、Nishikawa Hiroki、Kong Xiangbo、Tomiyama Hiroyuki
    • Journal Title

      International Journal of Reconfigurable and Embedded Systems (IJRES)

      Volume: 12 Pages: 97~97

    • DOI

      10.11591/ijres.v12.i1.pp97-112

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Empirical analysis of power side-channel leakage of high-level synthesis designed AES circuits2023

    • Author(s)
      Mizuno Takumi、Nishikawa Hiroki、Kong Xiangbo、Tomiyama Hiroyuki
    • Journal Title

      International Journal of Reconfigurable and Embedded Systems (IJRES)

      Volume: 12 Pages: 305~305

    • DOI

      10.11591/ijres.v12.i3.pp305-319

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Impacts of Clock Frequency and Sampling Intervals on Power Side-Channel Leakage of AES Circuits2024

    • Author(s)
      Yuto Miura, Hiroki Nishikawa, Xiangbo Kong, Hiroyuki Tomiyama
    • Organizer
      International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Fast 32-Bit and 48-Bit Multipliers for FPGA2024

    • Author(s)
      Wakana Ohashi, Aoi Yamaguchi, Hiroki Nishikawa, Hiroyuki Tomiyama,
    • Organizer
      International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 電力解析攻撃に対する複数の S-BOX を用いたオペレーション・シャッフリングに関する研究2024

    • Author(s)
      加治屋彰太, 西川広記, 吉田康太, 谷口一徹, 尾上孝雄
    • Organizer
      研究報告組込みシステム(EMB)
  • [Presentation] Impacts of Clock Constraints on Side-Channel Leakage of HLS-Designed AES Circuits2023

    • Author(s)
      Yuto Miura, Takumi Mizuno, Hiroki Nishikawa, Xiangbo Kong, Hiroyuki Tomiyama
    • Organizer
      International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Simulation-based Analysis of Power Side-Channel Leakage at Different Sampling Intervals2023

    • Author(s)
      Yuto Miura, Hiroki Nishikawa, Xiangbo Kong, Hiroyuki Tomiyama
    • Organizer
      nternational Workshop on Advances in Networking and Computing (WANC) in conjunction with International Symposium on Computing and Networking (CANDAR)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 電力のサンプリング間隔がAES回路のサイドチャネルリーク量に与える影響の評価2023

    • Author(s)
      三浦佑斗, 西川広記, 孔祥博, 冨山宏之
    • Organizer
      情報処理学会組込みシステム研究会

URL: 

Published: 2024-12-25  

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