2014 Fiscal Year Annual Research Report
イオン・陽電子同時照射系を用いるトランジェント陽電子計測法の開発
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24310080
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| Research Institution | Kyoto University |
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Principal Investigator |
木野村 淳 京都大学, 原子炉実験所, 教授 (90225011)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
大島 永康 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (00391889)
OROURKE Brian 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (60586551)
鈴木 良一 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 首席研究員 (80357300)
小川 博嗣 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (60356699)
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| Project Period (FY) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| Keywords | 陽電子 / イオン照射 / 照射損傷 / その場分析 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
複合ビーム照射技術の開発として、高速波形デジタイザをベースとした陽電子寿命測定装置の制御用プログラムコードの改良を行った。これにより、陽電子発生用リニアックのパルス間隔よりも短い時定数に対応したショートモードとパルス間隔よりも長い時定数に対応したロングパルスモードの二つのモードを使い分けられるようになると同時に、イオン照射の精度が向上した。また複合ビーム照射装置において、最大3kVの加速電圧を持つイオンガンでもArイオン照射を行い、従来から使用している最大150kVのイオン加速器と同様に照射が可能なことを確認した。
また照射誘起欠陥計測技術として、純Ni、純Fe、溶融石英試料に対して、温度を変えて複合ビーム照射を行い、複数の測定条件で陽電子寿命スペクトルの変化を調べた。純Ni試料に対しては、試料温度400℃以上で、表面からの陽電子の再放出ピークが顕著に観測され、そのピーク強度からイオン照射中のトランジェントな損傷状態の評価が可能であることを確認し、損傷回復の時定数の算出ができることを示した。この時の再放出陽電子の軌道計算を行ったところ、実験結果をよく再現した。また、純Feに対しても試料温度600℃で再放出陽電子のピークを観測することが可能であることが示され、この結果は純Niと同様の方法でイオン照射中のトランジェントな損傷状態の観測が可能であることを示唆した。さらに、石英試料に対しては、ポジトロニウム強度に着目して複数の照射温度でイオン照射を行なったところ、測定結果の温度依存性から損傷回復過程の活性化エネルギーが算出可能であることが示された。
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| Research Progress Status |
26年度が最終年度であるため、記入しない。
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| Strategy for Future Research Activity |
26年度が最終年度であるため、記入しない。
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| Causes of Carryover |
26年度が最終年度であるため、記入しない。
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| Expenditure Plan for Carryover Budget |
26年度が最終年度であるため、記入しない。
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