Research Project
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
偏光全反射蛍光XAFS法、偏光変調赤外反射吸収分光法、STM/AFMなどと組み合わせて、超高真空から大気圧付近までの幅広い圧力領域での触媒反応に影響する様々な因子の計測が可能なオペランド表面科学計測システムの開発を進める点は学術的に意義が大きい。実触媒の性能改善や新触媒の開発などより広い学術、科学技術、社会への大きな波及効果をもたらすことが期待できる。