2014 Fiscal Year Annual Research Report
軽元素オペランド条件XAFS測定による局所電子構造の解明
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25790059
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| Research Institution | Japan Atomic Energy Agency |
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Principal Investigator |
本田 充紀 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 量子ビーム応用研究センター, 任期付研究員 (10435597)
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| Project Period (FY) |
2013-04-01 – 2015-03-31
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| Keywords | オペランド観測 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本研究課題では、これまでに測定環境がおもに真空下に限定されていた軽元素(特に、S、Cl、Pなど)についてのX線吸収分光法(XAFS)を、大気・溶液環境下でのin-situ測定から、実デバイス動作環境下でのoperando測定へと応用展開し、太陽電池で用いられる電極や燃料電池で用いられる電解質膜などの表面吸着種や酸化状態を分析可能なシステムの構築へ向けた研究開発を行った。その結果、Sを含む分子についての大気・溶液環境下でのXAFSスペクトル測定に成功し、さらに、分子の機能発現下におけるXAFS測定にも成功した。
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