• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

モンテカルロ法にもとづくタイミング解析高速化の研究

研究課題

研究課題/領域番号 22360143
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 電子デバイス・電子機器
研究機関京都大学

研究代表者

佐藤 高史  京都大学, 大学院・情報学研究科, 教授 (20431992)

研究分担者 越智 裕之  京都大学, 大学院・情報学研究科, 准教授 (40264957)
筒井 弘  京都大学, 大学院・情報学研究科, 助教 (30402803)
研究期間 (年度) 2010 – 2012
研究課題ステータス 完了 (2012年度)
配分額 *注記
18,850千円 (直接経費: 14,500千円、間接経費: 4,350千円)
2012年度: 5,590千円 (直接経費: 4,300千円、間接経費: 1,290千円)
2011年度: 5,720千円 (直接経費: 4,400千円、間接経費: 1,320千円)
2010年度: 7,540千円 (直接経費: 5,800千円、間接経費: 1,740千円)
キーワード集積回路設計技術 / CAD / タイミング解析 / モンテカルロ法 / 集積回路設計 / 電子回路CAD
研究概要

先端集積回路の設計における最も重要な目標仕様の一つであるタイミング解析をモンテカルロ法により高速化する方法について検討した。デバイスの微細化にともなって顕著となる特性ばらつきや特性劣化の影響をモデル化することにより、これらをタイミング解析において正確に考慮可能とした。さらに、任意分布を扱えるモンテカルロ法の利点を維持しながらアルゴリズムをハードウェア実現することにより、既存手法に対し10倍以上の高速化を実現した。

報告書

(4件)
  • 2012 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2011 実績報告書
  • 2010 実績報告書
  • 研究成果

    (77件)

すべて 2013 2012 2011 2010

すべて 雑誌論文 (8件) (うち査読あり 8件) 学会発表 (69件)

  • [雑誌論文] Parallel Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element2013

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics

      巻: E96.C 号: 4 ページ: 473-481

    • DOI

      10.1587/transele.E96.C.473

    • NAID

      10031182823

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書 2012 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Device-Parameter Estimation through IDDQ Signatures2013

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E96.D 号: 2 ページ: 303-313

    • DOI

      10.1587/transinf.E96.D.303

    • NAID

      10031167410

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書 2012 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Cost-Effective Selective TMR for Coarse-Grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-Level Vulnerability Analysis2013

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics

      巻: E96.C 号: 4 ページ: 454-462

    • DOI

      10.1587/transele.E96.C.454

    • NAID

      10031182821

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Power Distribution Network Optimization for Timing Improvement with Statistical Noise Model and Timing Analysis2012

    • 著者名/発表者名
      Takashi Enami, Takashi Sato, and Masanori Hashimoto
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E95.A 号: 12 ページ: 2261-2271

    • DOI

      10.1587/transfun.E95.A.2261

    • NAID

      10031161360

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書 2012 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Bayesian Estimation of Multi-Trap RTN Parameters Using Markov Chain Monte Carlo Method2012

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E95.A 号: 12 ページ: 2272-2283

    • DOI

      10.1587/transfun.E95.A.2272

    • NAID

      10031161361

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書 2012 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Variability-Aware Energy-Minimization Strategy for Subthreshold Circuits2012

    • 著者名/発表者名
      Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E95.A 号: 12 ページ: 2242-2250

    • DOI

      10.1587/transfun.E95.A.2242

    • NAID

      10031161358

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書 2012 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Linear time calculation of on-chip power distribution network capacitance considering state-dependence2010

    • 著者名/発表者名
      Shiho Hagiwara, Koh Yamanaga, Ryo Takahashi, Kazuya Masu, Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: Vol.E93-A, No.12 ページ: 2409-2416

    • NAID

      120005323043

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Reliability evaluation environment for exploring design space of coarse-grained reconfigurable architectures2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: Vol.E93-A, No.12 ページ: 2524-2532

    • NAID

      10027985803

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] A Bayesian-Based Process Parameter Estimation using IDDQ Current Signature2013

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE VLSI Test Symposium (VTS)
    • 発表場所
      Hyatt Maui, Hawaii, USA
    • 年月日
      2013-04-23
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較2013

    • 著者名/発表者名
      藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • 年月日
      2013-03-19
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Evaluation of dependent node selection of histogram propagation based statistical timing analysis2013

    • 著者名/発表者名
      Shiyi Zhang, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • 年月日
      2013-03-19
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Multi-Trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference2013

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Techmart Center
    • 発表場所
      Santa Clara, USA
    • 年月日
      2013-03-06
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] オンラインテストを指向したIDDQ電流しきい値決定手法の検討2013

    • 著者名/発表者名
      Santa Clara, USA
    • 学会等名
      電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      沖縄青年会館,那覇市
    • 年月日
      2013-03-04
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation2013

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan
    • 年月日
      2013-01-25
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Realization of frequency-domain circuit analysis through random walk2013

    • 著者名/発表者名
      Tetsuro Miyakawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama, Yokohama
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation2013

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama, Yokohama
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] オンラインテストを指向したIDDQ電流しきい値決定手法の検討2013

    • 著者名/発表者名
      新谷 道弘, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      沖縄青年会館,那覇市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Multi-trap RTN parameter extraction based on Bayesian inference2013

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      Techmart Center, Santa Clara, USA
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討2013

    • 著者名/発表者名
      岡崎 剛, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Evaluation of dependent node selection of histogram propagation based statistical timing analysis2013

    • 著者名/発表者名
      Shiyi Zhang, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較2013

    • 著者名/発表者名
      藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価2012

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ICD研究会
    • 発表場所
      東京工業大学大岡山キャンパス 東工大大蔵前会館ロイアルブルーホール,東京都
    • 年月日
      2012-12-17
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Accurate I/O Buffer Impedance Self-Adjustment using Vth and Temperature Sensors2012

    • 著者名/発表者名
      Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      デザインガイア
    • 発表場所
      九州大学医学部百年講堂,福岡市
    • 年月日
      2012-11-27
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] 情報量規準を用いるRTNモデルパラメータ推定の自動化2012

    • 著者名/発表者名
      清水 裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館,下呂市
    • 年月日
      2012-08-29
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] 回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討2012

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤高史
    • 学会等名
      第25回回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • 年月日
      2012-07-31
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Physics Matters: Statistical Aging Prediction Under Trapping/detrapping2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 発表場所
      Moscone Center, San Francisco, USA
    • 年月日
      2012-06-05
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Statistical Observations of NBTI-Induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-Area Devices2012

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Hiromitsu Awano, Hirofumi Shimizu, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED)
    • 発表場所
      Santa Clara, CA USA
    • 年月日
      2012-03-20
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] GPU Acceleration of Cycle-Based Soft-Error Simulation for Reconfigurable Array Architectures2012

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Takahiro Oue, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      the 17th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI2012)
    • 発表場所
      B-con Plaza, Beppu, Oita, Japan
    • 年月日
      2012-03-08
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Hardware Architecture for Accelerating Monte Carlo Based SSTA using Generalized STA Processing Element2012

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      the 17th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI2012)
    • 発表場所
      B-con Plaza, Beppu, Oita, Japan
    • 年月日
      2012-03-08
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法2012

    • 著者名/発表者名
      新谷道広, 佐藤高史
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会(VLD)
    • 発表場所
      ビーコンプラザ(大分県)
    • 年月日
      2012-03-06
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み2012

    • 著者名/発表者名
      新谷道広, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都)
    • 年月日
      2012-02-13
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA using Generalized STA Processing Element2012

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues (TAU)
    • 発表場所
      National Taiwan University, Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2012-01-18
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA using Generalized STA Processing Element2012

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues (TAU)
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2012-01-18
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Statistical Aging Under Dynamic Voltage Scaling: a Logarithmic Model Approach2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Ketul B. Sutaria, Hirofumi Shimizu, Hiromitsu Awano, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
    • 発表場所
      DoubleTree Hotel, San Jose, USA
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Silicon Evidence, Modeling and Prediction2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • 発表場所
      Hyatt Regency Orange County, Anaheim, USA
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Aging statistics based on trapping/detrapping: silicon evidence, modeling and long-term prediction2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
    • 発表場所
      Hyatt Regency Orange County, Anaheim, USA
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] A Bayesian-based process parameter estimation using IDDQ current signature2012

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE VLSI test symposium (VTS)
    • 発表場所
      Hyatt Maui, Hawaii, USA
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Physics matters: statistical aging prediction under trapping/detrapping2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 発表場所
      Moscone Center, San Francisco, USA
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] 回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討2012

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] クリロフ部分空間法を用いた電源回路網解析の GPU 実装による高速化2012

    • 著者名/発表者名
      森下 拓海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] 情報量規準を用いる RTN モデルパラメータ推定の自動化2012

    • 著者名/発表者名
      清水裕史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      DA シンポジウム
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館,下呂市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Statistical Aging under dynamic voltage scaling: A logarithmic model approach2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Ketul B. Sutaria, Hirofumi Shimizu, Hiromitsu Awano, Takashi Sato and Yu Cao
    • 学会等名
      IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
    • 発表場所
      DoubleTree Hotel San Jose, San Jose, USA
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Accurate I/O Buffer Impedance Self-Adjustment using Vth and Temperature Sensors2012

    • 著者名/発表者名
      Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      デザインガイア
    • 発表場所
      九州大学医学部百年講堂,福岡市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価2012

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ICD研究会
    • 発表場所
      東京工業大学大岡山キャンパス 東工大蔵前会館ロイアルブルーホール ,東京都
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討2011

    • 著者名/発表者名
      粟野皓光, 清水裕史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
    • 発表場所
      ニューウェルシティ宮崎(宮崎県)
    • 年月日
      2011-11-28
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路の過渡解析2011

    • 著者名/発表者名
      宮川哲朗, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
    • 発表場所
      ニューウェルシティ宮崎(宮崎県)
    • 年月日
      2011-11-28
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] ブロック反復法による電源回路網解析の高速化2011

    • 著者名/発表者名
      森下拓海, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
    • 発表場所
      ニューウェルシティ宮崎(宮崎県)
    • 年月日
      2011-11-28
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] A transistor-array for parallel BTI-effects measurements2011

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Tadamichi Kozaki, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2011-11-11
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Statistical Aging Prediction and Characterization using Trapping/detrapping Based NBTI Models2011

    • 著者名/発表者名
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      DoubleTree Hotel, San Jose, USA
    • 年月日
      2011-11-10
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Getting the Most Out of IDDQ Testing2011

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      San Jose, CA USA
    • 年月日
      2011-11-10
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Statistical Aging Prediction and Characterization using Trapping/detrapping Based NBTI Models2011

    • 著者名/発表者名
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Takashi Sato, Yu Cao
    • 学会等名
      Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      San Jose, CA USA
    • 年月日
      2011-11-10
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] A Design Strategy for Sub-Threshold Circuits Considering Energy-Minimization and Yield-Maximization2011

    • 著者名/発表者名
      Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International SOC Conference (SOCC)
    • 発表場所
      Grand Hotel, Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2011-09-26
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] A Design Strategy for Sub-Threshold Circuits Considering Energy-Minimization and Yield-Maximization2011

    • 著者名/発表者名
      Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International SOC Conference (SOCC)
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2011-09-26
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] A Sensor-Based Self-Adjustment Approach for Controlling I/O Buffer Impedance2011

    • 著者名/発表者名
      Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      IEICE Society Conference
    • 発表場所
      Hokkaido University, Sapporo Campus
    • 年月日
      2011-09-15
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] ヤコビ法を用いた電源回路網解析のGPU実装2011

    • 著者名/発表者名
      森下拓海, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学,札幌キャンパス
    • 年月日
      2011-09-15
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定2011

    • 著者名/発表者名
      清水 裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学,札幌市
    • 年月日
      2011-09-13
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] A Device Array for Efficient Bias-Temperature Instability Measurements2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Tadamichi Kozaki, Takumi Uezono, Hiroshi Tsutsui, a nd Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
    • 発表場所
      Finlandia Hall, Helsinki, Finland
    • 年月日
      2011-09-13
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定2011

    • 著者名/発表者名
      清水裕史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学,札幌キャンパス
    • 年月日
      2011-09-13
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] A Device Array for Efficient Bias-Temperature Instability Measurements2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Tadamichi Kozaki, Takumi Uezono, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
    • 発表場所
      Helsinki, Finland
    • 年月日
      2011-09-13
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] 配線資源の信頼性モデルを用いた粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け選択的三重化の最適化手法2011

    • 著者名/発表者名
      今川隆司, 湯浅洋史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2011
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館(岐阜県)
    • 年月日
      2011-09-01
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] 複数不良領域を持つ回路歩留まり解析のための逐次重点的サンプリング法2011

    • 著者名/発表者名
      片山健太朗, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2011
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館(岐阜県)
    • 年月日
      2011-08-31
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] エネルギー最小化と動作保証を考慮したサブスレッショルド回路の設計指針の検討2011

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤高史
    • 学会等名
      第24回回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • 年月日
      2011-08-02
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] エネルギー最小化と動作保証を考慮したサブスレッショルド回路の設計指針の検討2011

    • 著者名/発表者名
      川島潤也, 越智裕之, 筒井弘, 佐藤高史
    • 学会等名
      第24回回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場(兵庫県)
    • 年月日
      2011-08-02
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] A Stress-Parallelized Device Array for Efficient Bias-Temperature Stability Measurements2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Tadamichi Kozaki, Takumi Uezono, Hiroshi Tsutsui, and Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Design for Manufacturability and Yield 2011(DFM&Y)
    • 発表場所
      San Diego Convention Center, San Diego, USA
    • 年月日
      2011-06-06
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] A Stress-Parallelized Device Array for Efficient Bias-Temperature Stability Measurement2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Tadamichi Kozaki, Takumi Uezono, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Design for Manufacturability and Yield 2011 (DFM&Y)
    • 発表場所
      San Diego, California, USA
    • 年月日
      2011-06-06
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Acceleration of Random-Walk-Based Linear Circuit Analysis using Importance Sampling2011

    • 著者名/発表者名
      Tetsuro Miyakawa, Koh Yamanaga, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      GLSVLSI 2011
    • 発表場所
      Lausanne, Switzerland
    • 年月日
      2011-05-04
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] 混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用2011

    • 著者名/発表者名
      萩原汐, 伊達貴徳, 上薗巧, 益一哉, 佐藤高史
    • 学会等名
      情報処理学会第148回システムLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      沖縄県 宮古島
    • 年月日
      2011-03-18
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] A fully pipelined implementation of Monte Carlo based SSTA on FPGAs2011

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED)
    • 発表場所
      Techmart Center, Santa Clara, USA
    • 年月日
      2011-03-16
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] A fully pipelined implementation of Monte Carlo based SSTA on FPGAs2011

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED)
    • 発表場所
      Santa Clara, USA
    • 年月日
      2011-03-16
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] A transistor-array for parallel BTI-effects measurements2010

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Tadamichi Kozaki, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      DoubleTreeHotel, San Jose, USA
    • 年月日
      2010-11-11
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Sequential importance sampling for low-probability and high-dimensional SRAM yield analysis2010

    • 著者名/発表者名
      Kentaro Katayama, Shiho Hagiwara, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2010-11-11
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] リングオシレータによるしきい値簡易測定の温度依存性の検討2010

    • 著者名/発表者名
      上薗巧, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会(VLD)
    • 発表場所
      京都府 京都工芸繊維大学
    • 年月日
      2010-09-28
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] A routing architecture exploration for coarse-grained reconfigurable architecture with an automation of SEU-tolerance evaluation2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      23rd IEEE International SOC Conference (SOCC)
    • 発表場所
      Las Vegas, USA
    • 年月日
      2010-09-28
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] A tool chain for generating SEU-vulnerability map for coarse-grained reconfigurable architecture2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      The 25th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC)
    • 発表場所
      Bangkok, Thai
    • 年月日
      2010-07-06
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Decomposition of drain-current variation into gain-factor and threshold voltage variations2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Takumi Uezono, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 発表場所
      Paris, France
    • 年月日
      2010-05-31
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Small delay and area overhead process parameter estimation through path-delay inequalities2010

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 発表場所
      Paris, France
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Path clustering for adaptive test2010

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE VLSI test symposium (VTS)
    • 発表場所
      Santa Cruz, USA
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書

URL: 

公開日: 2010-08-23   更新日: 2019-07-29  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi