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Development of Soft/Hard Co-Test Method for Embedded Systems

Research Project

Project/Area Number 18500055
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

Allocation TypeSingle-year Grants
Section一般
Research Field Computer system/Network
Research InstitutionEhime University

Principal Investigator

TAKAMATSU Yuzo  Ehime University, 大学院・理工学研究科, 教授 (80039255)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) TAKAHASHI Hiroshi  愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (80226878)
HIGAMI Yoshinobu  愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (40304654)
AMAN Hirohisa  愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 講師 (50333513)
Project Period (FY) 2006 – 2008
Project Status Completed (Fiscal Year 2008)
Budget Amount *help
¥4,000,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥600,000)
Fiscal Year 2008: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000)
Fiscal Year 2007: ¥1,560,000 (Direct Cost: ¥1,200,000、Indirect Cost: ¥360,000)
Fiscal Year 2006: ¥1,400,000 (Direct Cost: ¥1,400,000)
Keywords組み込みシステム / テスト / ハードウエア / ソフトウエア / 協調テスト / ソフト / ハード協調設計 / ハード協調テスト / テストケース / ソフトウエアメトリクス / 保守性 / ハードウエア記述言語
Research Abstract

本研究では, 組み込みシステムに対して自動的にテストケースを生成する手法を開発した. 開発した手法では, システムをハードウエアとソフトウエアにく別することなく, システム全体をテストすることが可能となる. また, テスト生成においては, 仕様で与えられたシステムの動作やテスト生成時の様々な制約を論理回路で表現し, ハードウエアテスト生成ツールを用いた手法を開発することで, 実用化が容易となるようにした.

Report

(4 results)
  • 2008 Annual Research Report   Final Research Report ( PDF )
  • 2007 Annual Research Report
  • 2006 Annual Research Report
  • Research Products

    (21 results)

All 2008 2007 2006

All Journal Article (8 results) (of which Peer Reviewed: 4 results) Presentation (13 results)

  • [Journal Article] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケール生成法2008

    • Author(s)
      樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
    • Journal Title

      組込みシステムシンポジウム論文集

      Pages: 151-157

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  • [Journal Article] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法2008

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      樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
    • Journal Title

      組込みシステムシンポジウム論文集 無し

      Pages: 151-157

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    • Author(s)
      Y. Higami, S. Kajihara, I. Pomeranz, S. Kobayashi and Y. Takamatsu
    • Journal Title

      IEICE Trans. on Inf. & Syst. vol.E89-D, no.11

      Pages: 2748-2755

    • NAID

      110007538482

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    • Author(s)
      樋上喜信, Kewal K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
    • Journal Title

      情報処理学会論文誌 vol.47, no.5

      Pages: 1269-1277

    • NAID

      110004729724

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      岡崎博和, 阿萬裕久, 山田宏之
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      第5回情報科学技術フォーラム(FIT2006) 論文集

      Pages: 111-114

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      土居通夫, 阿萬裕久, 山田宏之
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      電子情報通信学会技術報告 106・326

      Pages: 31-36

    • NAID

      110004851227

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      岡崎博和, 阿萬裕久, 山田宏之
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      ソフトウェア工学の基礎 XIII

      Pages: 35-40

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      黒川耕平, 阿萬裕久
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      福岡
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      2008-11-28
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      藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • Organizer
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      藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
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      電気関係学科四国支部連合大会
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      徳島
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  • [Presentation] 要求仕様作成に対する直交表を用いた支援法について2008

    • Author(s)
      阿萬裕久
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      ソフトウェアシンポジウム2008 Proceedings, pp.154-155
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      ソフトウェアシンポジウム2008
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      高松
    • Year and Date
      2008-06-25
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  • [Presentation] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008

    • Author(s)
      高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Year and Date
      2008-03-18
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  • [Presentation] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008

    • Author(s)
      高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 釜山 天平, 小林 真也, 高松 雄三
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      早稲田大学(北九州市)
    • Year and Date
      2008-03-18
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  • [Presentation] 直交表を用いた単体テストに関する考察~JUnit支援ツールの試作~2007

    • Author(s)
      山田輝, 阿萬裕久, 高松雄三
    • Organizer
      電子情報通信学会技術報告, vol.107, no.5, pp.1-6
    • Year and Date
      2007-04-19
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  • [Presentation] 直交表を用いた単体テストに関する考察 〜JUnit支援ツールの試作2007

    • Author(s)
      山田 輝・阿萬 裕久・高松 雄三
    • Organizer
      電子情報通信学会技術報告
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      会津大学(会津若松市)
    • Year and Date
      2007-04-19
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  • [Presentation] ハードウエア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用2007

    • Author(s)
      阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Year and Date
      2007-03-21
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  • [Presentation] ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法2007

    • Author(s)
      樋上喜信, K. K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
    • Organizer
      電子情報通信学会技術報告(DC研究会), vol. 106, no. 476, pp. 34-39
    • Year and Date
      2007-02-09
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  • [Presentation] Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment2006

    • Author(s)
      Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi and Y. Takamatsu
    • Organizer
      Proc. IEEE Fifteenth Asian Test Symposium, pp. 354-359
    • Year and Date
      2006-11-26
    • Related Report
      2008 Final Research Report

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Published: 2006-04-01   Modified: 2016-04-21  

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