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Establishment of a Trusted Platform at the Physical Layer to Guarantee the Authenticity of Sensing Information

Research Project

Project/Area Number 18KT0050
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

Allocation TypeMulti-year Fund
Section特設分野
Research Field The Information Society and Trust
Research InstitutionNara Institute of Science and Technology

Principal Investigator

Hayashi Yuichi  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 藤本 大介  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 助教 (60732336)
Project Period (FY) 2018-07-18 – 2021-03-31
Project Status Completed (Fiscal Year 2020)
Budget Amount *help
¥18,460,000 (Direct Cost: ¥14,200,000、Indirect Cost: ¥4,260,000)
Fiscal Year 2020: ¥3,640,000 (Direct Cost: ¥2,800,000、Indirect Cost: ¥840,000)
Fiscal Year 2019: ¥6,370,000 (Direct Cost: ¥4,900,000、Indirect Cost: ¥1,470,000)
Fiscal Year 2018: ¥8,450,000 (Direct Cost: ¥6,500,000、Indirect Cost: ¥1,950,000)
Keywords電磁波セキュリティ / 計測セキュリティ / 真正性保証 / 故障利用解析
Outline of Final Research Achievements

In this research, we have developed fundamental technologies to guarantee the authenticity of information obtained through real-world sensing, which is the key to creating services in the IoT era. The following technologies were developed to achieve the above goals. (1) Technology guarantees the authenticity of data by using environmental electromagnetic waves distributed around the sensor as authentication information to resist data tampering at the sensor input. (2) Technology to detect signs of tampering and guarantee data integrity by monitoring the distribution of the electromagnetic field inside the device in real-time to counter tampering inside the sensor and during data transmission. (3) Technology to guarantee the device's authenticity by using the physical characteristics of the sensing device as authentication information against the threat of tampering with values by replacing the device itself equipped with the sensor.

Academic Significance and Societal Importance of the Research Achievements

センシングを行う過程で得られる値の真正性については十分な議論がなされておらず、意図的な妨害波などを通じてセンシング過程において情報改ざんが行われた場合、上位レイヤにおける情報保護技術による検出は困難であり、センシング情報を基に創出されるサービス全ての信頼性を著しく低下させる新たな脅威となり得る。
本研究では、センシング情報の改ざんを行いIoTシステム全体のセキュリティを低下させる脅威に対抗するために、情報セキュリティ、環境電磁工学、集積回路工学の3分野の知見を併せ、ハードウェアレベルで真正性の保証されたセンシング情報を提供する技術開発を行った。

Report

(4 results)
  • 2020 Annual Research Report   Final Research Report ( PDF )
  • 2019 Research-status Report
  • 2018 Research-status Report
  • Research Products

    (29 results)

All 2021 2020 2019 2018

All Journal Article (8 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results,  Peer Reviewed: 7 results,  Open Access: 1 results) Presentation (21 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Invited: 1 results)

  • [Journal Article] Design and Evaluation of a Spark Gap Based EM-fault Injection Setup2020

    • Author(s)
      Beckers Arthur、Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi、Balasch Josep、Verbauwhede Ingrid
    • Journal Title

      2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity

      Volume: 2020 Pages: 523-526

    • DOI

      10.1109/emcsi38923.2020.9191455

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      Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity

      Volume: 2020 Pages: 527-527

    • DOI

      10.1109/emcsi38923.2020.9191669

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    • Author(s)
      Yuichi Hayashi、William A. Radasky
    • Journal Title

      2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity

      Volume: 2020 Pages: 1-1

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    • Journal Title

      2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2020 Pages: 1-5

    • DOI

      10.1109/emceurope48519.2020.9245847

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      Daisuke FUJIMOTO, Takashi NARIMATSU, Yuichi HAYASHI
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      IEICE Transactions on Electronics

      Volume: E102.C Issue: 9 Pages: 636-640

    • DOI

      10.1587/transele.2019EMP0005

    • NAID

      130007699870

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • Year and Date
      2019-09-01
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      Volume: 2019 Pages: 62-90

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      Hikaru Nishiyama, Takumi Okamoto, Kim Young Woo, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      2019 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo)

      Volume: 2019 Pages: 201-203

    • DOI

      10.1109/emccompo.2019.8919838

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      Volume: 2019 Pages: 670-670

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Published: 2018-07-20   Modified: 2022-12-28  

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