Development of high temperature a scanning Hall probe microscope incorporating a Hall probe fabricated using gallium nitride heterostructures

• Project/Area Number: 19360139
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Research Field: Electronic materials/Electric materials
• Research Institution: Tokyo Institute of Technology
• Principal Investigator: SANDHU Adarsh Tokyo Institute of Technology, 量子ナノエレクトロニクス研究センター, 准教授 (80276774)
• Project Period (FY): 2007 – 2008
• Project Status: Completed (Fiscal Year 2008)
• Budget Amount: ¥18,200,000 (Direct Cost: ¥14,000,000、Indirect Cost: ¥4,200,000); Fiscal Year 2008: ¥8,580,000 (Direct Cost: ¥6,600,000、Indirect Cost: ¥1,980,000); Fiscal Year 2007: ¥9,620,000 (Direct Cost: ¥7,400,000、Indirect Cost: ¥2,220,000)
• Keywords: 磁性 / 走査プローブ顕微鏡 / 磁区 / スピンエレクトロニクス / 磁気記録 / 走査型ホールプローブ顕微鏡 / 強磁性体 / AlGaN / GaN / 2次元電子ガスヘテロ接合 / 磁気記録媒体

Research Abstract

高温における強磁性体の磁区構造の観察を目的とし、高温走査型ホールプローブ顕微鏡(High Temperature Scanning Hall Probe Microscopy, HT-SHPM)用プローブを作製した。高温観測のためのプローブにAl 組成比、Siドープの有無など構造の異なるAlGaN/GaNの温度特性を調べ、感磁部の大きさが2μm×2μmであるホールプローブを作製した。作製したプローブの電気特性を評価し、ホール係数は25℃で0.0077Ω/G、400℃においては0.0046Ω/Gという結果を得た。また、HT-SHPMを用いて100℃以上における強磁性体ガーネット薄膜の磁区観察、外部磁界印加時の磁区観察に成功した。

Research Products

• [Journal Article] Contact mode scanning Hall probe microscopy (2008)
  • Author(s): T.Ohashi, H. Osawa, A. Sandhu
  • Journal Title: IEEE Transactions on Magnetics 44 Pages: 3252-3254
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Contact mode scanning Hall probe microscopy (2008)
  • Author(s): T. Ohashi, H. Osawa, A. Sandhu
  • Journal Title: IEEE Transactions on Magnetics 44 Pages: 3252-3254
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] High Temperature Scanning Hall Probe Microscopy (HT-SHPM) using AlGaN/GaN 2DEG micro Hall Probes (2007)
  • Author(s): Z. Primadani, H. Osawa and A. Sandhu
  • Journal Title: J. Appl. Phys 101
  • Peer Reviewed
• [Presentation] Novel contact mode scanning Hall probe microscopy (2008)
  • Author(s): T.Ohashi, H. Osawa, A. Sandhu
  • Organizer: International Magnetics Conference 2008
  • Place of Presentation: Madrid, Spain
  • Year and Date: 2008-05-05
• [Presentation] AlGaN/GaN系ホール・プローブを用いた高温用走査型ホール・プローブ顕微鏡(HT-SHPM)の開発 (2007)
  • Author(s): 大澤洋貴、プリマダニザキ、サンドゥーアダルシュ
  • Organizer: 春季第54回応用物理学関係連合講演会
  • Year and Date: 2007-03-29
• [Presentation] High Temperature Scanning Hall Probe Microscopy (HT-SHPM) using AlGaN/GaN2DEG micro Hall Probes (2007)
  • Author(s): Z. Primadani, H. Osawa and A. Sandhu
  • Organizer: 10th Joint MMM/Intermag Conference, FH-14
  • Place of Presentation: Baltimore, Maryland
  • Year and Date: 2007-01-08