| Project/Area Number |
19560056
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Research Field |
Applied physics, general
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| Research Institution | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
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Principal Investigator |
KANEKO Nobuhisa National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 計測標準研究部門, 室長 (30371032)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
URANO Chiharu 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測標準研究部門, 研究員 (30356589)
OE Takehiko 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測標準研究部門, 研究員 (30443170)
KIRYU Shogo 武蔵工業大学, 生体医工学科, 教授 (00356908)
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| Project Period (FY) |
2007 – 2008
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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| Budget Amount *help |
¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000)
Fiscal Year 2008: ¥1,170,000 (Direct Cost: ¥900,000、Indirect Cost: ¥270,000)
Fiscal Year 2007: ¥3,510,000 (Direct Cost: ¥2,700,000、Indirect Cost: ¥810,000)
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| Keywords | 標準 / 直流抵抗標準 / 量子ホール効果 / 2次元電子系 / 化合物半導体 / 計測工学 / 基礎物理定数 / 計測標準 |
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| Research Abstract |
従来、単一の量子ホール素子の量子化ホール抵抗つまりh/e2(25.812 807 kΩ)の整数分の1の値という、取り扱いに不便な量で実現されていた直流抵抗標準を、素子を独自に開発したアルゴリズムで直並列に集積化することにより、10の冪の値に拡張した。具体的には10 kΩの集積量子ホール効果素子の開発に成功し、国家標準との整合性を10-8のレベルまで確認した。この技術を更に高度化し、今後国家標準として採用すれば、不確かさの向上が見込め、1次標準から直接校正できる範囲が拡大できることが明らかとなった。
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