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2017 Fiscal Year Annual Research Report

Interdisciplinary research on quantum imaging opened with 3D semiconductor detector

Administrative Group

Project AreaInterdisciplinary research on quantum imaging opened with 3D semiconductor detector
Project/Area Number 25109001
Research InstitutionHigh Energy Accelerator Research Organization

Principal Investigator

新井 康夫  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 素粒子原子核研究所, 教授 (90167990)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 三好 敏喜  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 素粒子原子核研究所, 研究機関講師 (20470015)
幅 淳二  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 素粒子原子核研究所, 教授 (60180923)
Project Period (FY) 2013-06-28 – 2018-03-31
Keywordsイメージング / 先端機能デバイス / 放射線 / 素粒子実験 / 粒子線 / X線 / 3次元半導体
Outline of Annual Research Achievements

平成29年度は本領域研究の最終年度となり、数多くの企画を行った。
6月には宮崎大学で2日間の国内研究会を開催し約60名の参加があった。各研究班からの研究報告の他、招待講演、ポスターセッション、および関連企業の施設見学も行った。最終年度となり、各報告は内容の充実したものとなり、聞き応えがあった。常に発表スライドは、Web上に保存し公開しているが、今回は特に内容が充実していたことから、冊子としても印刷し、各所に配布した。
続いて10月には、東京大学小柴ホールにおいて「SOI量子イメージ検出器の新展開に向けて」と題する研究会を公開で行なった。領域メンバー以外の研究者や企業からの参加者も多く、本領域研究終了後も引き続きSOI検出器の活動に期待する声が多く寄せられた。
12月には本領域研究の総まとめとして、沖縄科学技術大学において国際会議「11th HSTD11 and 2nd Workshop on SOI Pixel Detector - SOIPIX2017」を5日間に渡り開催した。海外からの参加者約130名を含め200名以上の参加者があり、この手の国際会議としては非常に大規模なものとなり、多くの優れた研究発表がなされ大いに盛り上がった。
この他、総括班会議、中心メンバーによる会議等を頻繁に行い、翌年度以降の研究体制について議論した。特に8月には、泊まりがけで夜遅くまで議論し、新たな研究グループや研究テーマを含めた発展方向について検討を行ない、翌年度の新たな新学術領域申請へ向けた議論を行った。また9月には、KEKにおいて第4回目のSOI設計講習会を開催し10名以上の参加を得た。この他、継続的に本新学術領域のWebページをアップデートすると同時に、上記活動を支える為、事務処理を行う人員を雇用し、研究活動に対するサポートを行った。

Research Progress Status

29年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

29年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (20 results)

All 2018 2017 2013 Other

All Int'l Joint Research (3 results) Journal Article (8 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results,  Peer Reviewed: 8 results,  Open Access: 7 results) Presentation (4 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Invited: 3 results) Remarks (2 results) Patent(Industrial Property Rights) (2 results) Funded Workshop (1 results)

  • [Int'l Joint Research] Institute of High Energy Physics(中国)

    • Country Name
      CHINA
    • Counterpart Institution
      Institute of High Energy Physics
  • [Int'l Joint Research] AGH University, Krakow/Institute of Nuclear Physics, Krakow(ポーランド)

    • Country Name
      POLAND
    • Counterpart Institution
      AGH University, Krakow/Institute of Nuclear Physics, Krakow
  • [Int'l Joint Research] IFIN-HH(ルーマニア)

    • Country Name
      ROMANIA
    • Counterpart Institution
      IFIN-HH
  • [Journal Article] Development of monolithic pixel detector with SOI technology for the ILC vertex detector2018

    • Author(s)
      Yamada M.、Ono S.、Tsuboyama T.、Arai Y.、Haba J.、Ikegami Y.、Kurachi I.、Togawa M.、Mori T.、Aoyagi W.、Endo S.、Hara K.、Honda S.、Sekigawa D.
    • Journal Title

      Journal of Instrumentation

      Volume: 13 Pages: C01037~C01037

    • DOI

      10.1088/1748-0221/13/01/C01037

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Performance study of double SOI image sensors2018

    • Author(s)
      Miyoshi T.、Arai Y.、Fujita Y.、Hamasaki R.、Hara K.、Ikegami Y.、Kurachi I.、Nishimura R.、Ono S.、Tauchi K.、Tsuboyama T.、Yamada M.
    • Journal Title

      Journal of Instrumentation

      Volume: 13 Pages: C02005~C02005

    • DOI

      10.1088/1748-0221/13/02/C02005

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] A Low-Noise X-ray Astronomical Silicon-On-Insulator Pixel Detector Using a Pinned Depleted Diode Structure2017

    • Author(s)
      Kamehama Hiroki、Kawahito Shoji、Shrestha Sumeet、Nakanishi Syunta、Yasutomi Keita、Takeda Ayaki、Tsuru Takeshi、Arai Yasuo
    • Journal Title

      Sensors

      Volume: 18 Pages: 27~27

    • DOI

      10.3390/s18010027

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Front-end electronics of double SOI X-ray imaging sensors2017

    • Author(s)
      Miyoshi T.、Arai Y.、Fujita Y.、Hara K.、Ikegami Y.、Kurachi I.、Tauchi K.、Tsuboyama T.、Yamada M.、Ono S.、Nishimura R.、Hamasaki R.
    • Journal Title

      Journal of Instrumentation

      Volume: 12 Pages: C02004~C02004

    • DOI

      10.1088/1748-0221/12/02/C02004

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Synchrotron beam test of a photon counting pixel prototype based on Double-SOI technology2017

    • Author(s)
      Zhou Y.、Lu Y.、Hashimoto R.、Nishimura R.、Kishimoto S.、Arai Y.、Ouyang Q.
    • Journal Title

      Journal of Instrumentation

      Volume: 12 Pages: C01037~C01037

    • DOI

      10.1088/1748-0221/12/01/C01037

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Evaluation of a pulse counting type SOI pixel using synchrotron radiation X-ray2017

    • Author(s)
      Hashimoto R.、Arai Y.、Igarashi N.、Kumai R.、Lu Y.、Miyoshi T.、Nishimura R.、Ouyang Q.、Zhou Y.、Kishimoto S.
    • Journal Title

      Journal of Instrumentation

      Volume: 12 Pages: C03061~C03061

    • DOI

      10.1088/1748-0221/12/03/C03061

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Development of electron-tracking Compton imaging system with 30-μm SOI pixel sensor2017

    • Author(s)
      Yoshihara Y.、Shimazoe K.、Mizumachi Y.、Takahashi H.、Kamada K.、Takeda A.、Tsuru T.、Arai Y.
    • Journal Title

      Journal of Instrumentation

      Volume: 12 Pages: C01045~C01045

    • DOI

      10.1088/1748-0221/12/01/C01045

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Performance of the INTPIX6 SOI pixel detector2017

    • Author(s)
      Arai Y.、Bugiel Sz.、Dasgupta R.、Idzik M.、Kapusta P.、Kucewicz W.、Miyoshi T.、Turala M.
    • Journal Title

      Journal of Instrumentation

      Volume: 12 Pages: C01028~C01028

    • DOI

      10.1088/1748-0221/12/01/C01028

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Presentation] SOI X線ピクセル検出器開発プロジェクトの現状2018

    • Author(s)
      新井康夫
    • Organizer
      放射光学会
    • Invited
  • [Presentation] 量子線イメージセンサ用SOIモノリシックピクセル技術2018

    • Author(s)
      新井康夫
    • Organizer
      映像情報メディア学会
    • Invited
  • [Presentation] 積分型SOI放射線ピクセルセンサーの開発2018

    • Author(s)
      三好敏喜
    • Organizer
      日本物理学会
  • [Presentation] SOI monolithic pixel technology for radiation image sensor2017

    • Author(s)
      Y. Arai
    • Organizer
      2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Remarks] 3次元半導体検出器で切り拓く新たな量子イメージングの展開

    • URL

      http://soipix.jp/index.html

  • [Remarks] SOI Pixel R&D

    • URL

      http://rd.kek.jp/project/soi/

  • [Patent(Industrial Property Rights)] 半導体装置2017

    • Inventor(s)
      新井康夫
    • Industrial Property Rights Holder
      新井康夫
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      特願2017-101258
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 半導体装置およびその製造方法2013

    • Inventor(s)
      新井康夫
    • Industrial Property Rights Holder
      新井康夫
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      第6108451
  • [Funded Workshop] HSTD11 & SOIPIX20172017

URL: 

Published: 2018-12-17  

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