1990 Fiscal Year Annual Research Report
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01550229
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| Research Institution | Hachinohe Institute of Technology |
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Principal Investigator |
藤田 成隆 八戸工業大学, 工学部, 助教授 (80105543)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
能登 文敏 八戸工業大学, 工学部, 教授 (20006612)
類家 光雄 八戸工業高等専門学校, 助教授 (10042128)
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| Keywords | 放射線劣化 / 有機絶縁材料 / 絶縁破壊 |
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| Research Abstract |
PFAミニケ-ブル、FEPミニケ-ブル及びPEEKミニケ-ブルの無照射あるいはγ線照射時の短時間破壊特性及び長時間破壊特性(Vーt特性;V:電圧、t:時間)について検討した。
各ミニケ-ブルは、銀メッキ銅線を厚さ0.03mmシリコ-ン系の半導電層で被膜し、その上から0.5mmの厚さにそれぞれの樹脂を溶融押出法で製造した構造になっている。線量はPFAミニケ-ブル及びFEPミニケ-ブルの場合0.05、0.2MGy及び0.8MGyの3種類で、PEEKミニケ-ブルの場合は5MGy及び10MGyの2種類である。
初めに、PFAミニケ-ブル、FEPミニケ-ブル及びPEEKミニケ-ブルの線量と短時間破壊電圧の関係を調べた。PFAミニケ-ブルの場合、0.05MGy照射時の短時間破壊電圧は無照射とほぼ同じであるが、0.2MGy照射では急激に低下した。FEPミニケ-ブルの場合、無照射から0.2MGy照射の範囲で短時間破壊電圧はほぼ一定となった。なお、0.8MGy照射ではPFAミニケ-ブル及びFEPミニケ-ブルともに劣化が激しく実験が不能であった。また、PFAミニケ-ブルとFEPミニケ-ブルの破壊電圧を比較すると、0.05MGy照射の場合FEPミニケ-ブルよりPFAミニケ-ブルの短時間破壊電圧が高いが、0.2MGy照射では逆にFEPの方が高くなった。一方、PEEKミニケ-ブルの短時間破壊電圧は、無照射から10MGy照射までほとんど変化しなかった。
次に、PFAミニケ-ブル、FEPミニケ-ブル及びPEEKミニケ-ブルの無照射及び0.2MGy照射時のVーt特性を調べた。PFAミニケ-ブルの場合0.2MGy照射時の電圧寿命は急激に短くなるが、FEPミニケ-ブルの場合は、0.2MGy照射しても電圧寿命は無照射とほぼ同じであった。一方、PEEKミニケ-ブルの場合、5MGy照射すると電圧寿命は無照射よりも多少長くなった。
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