1989 Fiscal Year Annual Research Report
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01840025
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
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| Research Institution | Osaka University |
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Principal Investigator |
横山 友 大阪大学, 理学部, 教授 (10028095)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
福本 敬夫 大阪大学, 理学部, 教務員 (10199268)
文珠四郎 秀昭 大阪大学, 理学部, 助手 (80191071)
樋上 照男 大阪大学, 理学部, 助手 (50143821)
渡辺 巌 大阪大学, 理学部, 助教授 (50028239)
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| Keywords | 光電子放射分光 / 金属薄膜 / 仕事関数 |
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| Research Abstract |
今年度は常圧光電子放射スペクトル測定装置の基本的性能の評価、実験条件の確立及び各種金属試料、金薄膜についてのスペクトル測定を行なった。
装置の較正として感度補正済のフォトダイオ-ドを用いて照射光の絶対強度測定を行い、光電子放射量を規格化した。これにより3.5eVから6.5eVまでの正確な光電子放射スペクトル測定が可能となった、また、常圧放電型電子センサ-は、その機構上検出電子に数え落としがあるためこの補正係数を決定し、0〜1000cpsの範囲での直線的応答性を保証できた。さらに、電子センサ-の放電電圧特性、サンプル高さと放射電子の検出効率の関係などについても検討を行ない、実験条件の最適化を行なった。また、この条件下でマイクロコンピュ-タ制御によりスペクトル測定を行なうためのプログラムを作製した。
スペクトルの測定は、まず、各種の純金属について行なった。得られたスペクトルを解析して得られた仕事関数(光電子放射しきい値)は、超高真空中で求められている清浄金属表面の仕事関数と相関があることがわかった。しかし、光電子放射スペクトルの形状は各々の金属に特有のものであり、金属のバンド構造に対応していると思われる。これについては定量的な議論の可能な解析法を検討中である。
また、金属薄膜の膜厚と光電子放出量の関係についてスライドガラス上に真空蒸着した金薄膜を用いて検討した。光電子放出量は膜厚の増加とともに増大し、本法により金属薄膜の膜厚評価が可能であることがわかった。さらに精密な測定を行ない、低エネルギ-電子の金属中での平均自由行程を決定する予定である。また、金蒸着膜の場合には3Å程度の膜厚でも光電子放射スペクトルの測定が可能であり、本法が表面に対し極めて高感度であることがわかった。
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