2000 Fiscal Year Annual Research Report
Project/Area Number |
10490008
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Research Institution | The University of Tokyo |
Principal Investigator |
岩田 修一 東京大学, 人工物工学研究センター, 教授 (50124665)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
芦野 俊宏 東京大学, 人工物工学研究センター, 講師 (40302583)
河西 寛 東京大学, 工学系研究科, 助手 (40010970)
関村 直人 東京大学, 工学系研究科, 教授 (10183055)
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Keywords | 材料設計 / 材料情報 / 数値シミュレーション / 照射損傷 / 材料データベース |
Research Abstract |
今年度は、平成11年度の実装結果を改良するための調査及びメタデータの整備を行った。 1.材料に関するミクロ、メゾ、マクロモデルの統合化について、マルチスケールモデリングの現状について調査を行い、分子動力学法及び転位シミュレーションを中心にしたモデル統合のためのセマンテックスについての検討とデータベース化を行った。モデル間の整合性のチェックのために、幾何学的、エネルギー的及び時間的な妥当性を評価するための経験則、理論値群をデータベースとして準備し、自己組織化のための方策を検討した。 2.材料を利用者の視点、すなわち機能、特性から見た時の検索式の展開方法についての検討を行い、ライブラリーとして整備した。仮説形成を伴うため、試行錯誤的なアプローチが不可欠であることから、検索式を問題別に準備した静的なライブラリー群としてではなく、求解のプロセスをデータと操作の連鎖によって表現することを試みた。 3.以上の準備を基に、発見型の材料データシステムの仕様についての検討を行った。特に、特性・機能空間と構造空間との相関を基台に、順問題としての解析方法のシームレス化、逆問題としての設計解の検討した。前者は情報が不十分な領域の知識の補完法、後者は解空間の発見的な構築が重要であるが、最初は共に膨大な試行錯誤を要するため、自己組織化処理が困難な前段階のデータ処理過程について具体的な検討を行った。検討対象は酸化物及び金属間化合物の設計法である。以上、債種年度の統合化に向けた予備的研究を実施した。
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[Publications] X.Ge,S.Iwata, et.al: "A Physics-Inspired Algorithm for Information Visualization with Application to Gene Expression Analysis"JOURNAL OF THE SCHOOL ENGINEERING, THE UNIVERSITY OF TOKYO. XLVII. 89-103 (2000)
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[Publications] S.Iwata,N.Shichijo, et.al: "Modular simulation technique for virtual experiment of complex phenomena in materials"Materials & Design. 22. 77-79 (2001)
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[Publications] Y.Kaneta,S.Iwata et.al: "Theoretical Calculation for the Fermi Surface Structures of CeSb in the Ferromgnetic and Ferrimagnetic AFF1 Phases"Journal of the Physical Society of Japan. 69. 2559-2576 (2000)
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[Publications] Y.Yamagiwa,S.Soyama,S.Iwata: "Research Concerning the Separation and Recovery of Used Printed Wiring Board Solder"IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS PACKAGING MANUFACTUREING. 23・3. 214-218 (2000)
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[Publications] Y.Kotliarov,S.Iwata: "Application of Graph Theory for the Detection of Disconnected Structures in Crystallographic Database. Copper-Oxide Perovskites as a Case Study"Acta Crystallographica B. 56. 936-939 (2000)