2003 Fiscal Year Annual Research Report
頭蓋外短持続電気刺激に対する前庭神経ニューロンの反応に関する生理学的研究
Project/Area Number |
13671767
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Research Institution | The University of Tokyo |
Principal Investigator |
高井 禎成 東京大学, 医学部附属病院, 助手 (50345211)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
物部 寛子 東京大学, 医学部附属病院, 助手 (90334375)
竹内 直信 東京大学, 医学部附属病院, 講師 (40280945)
岩崎 真一 東京大学, 医学部附属病院, 助手 (10359606)
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Keywords | 電気刺激 / 前庭神経 / 球形嚢 / 神経生理学 / 誘発電位 / VEMP / 耳石器 |
Research Abstract |
動物実験 ネンブタールによる全身麻酔モルモットを用い、頚筋上においた電極から誘発電位を記録する実験を行った。この部位で陰性電位が記録されることは明らかであったが、本年度は、薬理学的に内耳(前庭系)を破壊した動物でこの電位が消失することを明らかにした。電気刺激と免疫組織化学的手法の組み合わせによってもこの刺激が前庭系を刺激していることが示唆された。 ヒトにおける臨床研究 ヒトにおける臨床研究においては、次のような成果が得られた。短持続電気刺激による頚筋反応が、迷路病変と後迷路病変の鑑別に有用である結果が得られたことから、この反応を前庭神経炎の障害部位診断に応用した。前庭神経炎の場合約80%の症例では本反応も消失しており、障害部位は前庭神経にあると考えられたが、約20%の症例では、音響刺激によるVEMPが消失している症例においても本反応が認められ、障害部位は内耳と考えられた。このように、本反応の応用によって、臨床的に前庭神経炎と診断される症例のなかには、迷路障害型と神経障害型の二種類に分類されることが明らかとなった。この成果は、Neurology誌で発表された。また、この短持続電気刺激による刺激部位は、比較的長い持続の電気刺激を用いるgalvanic body sway testにおける刺激部位と同一部位であることがわかった。この成果はClinical Neurophysiology誌で発表予定である。
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Research Products
(4 results)
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[Publications] Iwasaki S, Ito K, Takai Y, Morita A, Nito T, Murofushi T: "Chondroid cordoma at the jagular foramen causing retro-labyrinthine lesion."Annals of Otology Rhinology Laryngology. 113. 82-86 (2004)
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[Publications] Murofushi T, Monobe H, Ozeki H, Ochiai A: "The site of lesions in "vestibular neuritis", study by galvanic VEMP."Neurology. 61. 417-418 (2003)
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[Publications] Iwasaki S, Ito K, Abbey K, Murofushi T: "Prediction of canal paresis with head-shaking nystagmus test."Acta Otolaryngologica. in press.
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[Publications] Monobe H, Murofushi T: "Vestibular testing by electrical stimulation in patients with unilateral vestibular deafferentation."Clinical Neurophysiology. in press.