2005 Fiscal Year Annual Research Report
真空中に取り出された中空イオンからのAuger電子放出
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15540387
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| Research Institution | The Institute of Physical and Chemical Research |
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Principal Investigator |
金井 保之 独立行政法人理化学研究所, 山崎原子物理研究室, 先任研究員 (00177487)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
中井 陽一 独立行政法人理化学研究所, 山崎原子物理研究室, 先任研究員 (30260194)
山崎 泰規 東京大学, 大学院・総合分化研究科, 教授 (30114903)
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| Keywords | マイクロキャピラリー / 中空イオン / Auger電子 / ビームガイド効果 |
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| Research Abstract |
1.真空中に取り出された中空イオンから放出されるAuger電子測定用実験装置が他の装置からの磁場(超伝導磁石からの弱い漏れ磁場)の影響を受けることが明らかとなったため、他の装置からの磁場の影響が無視出来るように、実験ビームライン上の設置位置の移動を行った。それに伴い。(1)真空槽の高さの変更、(2)標的導入部分の改造を行った。
2.磁場の影響によりAuger電子の測定が正確に行えない期間に、ArイオンをNiキャピラリー薄膜に入射させ、イオンとキャピラリー内壁面との相互作用で生成された中空イオンの脱励起過程で放出されるX線と最終イオン価数との同時測定の実験を行ない、昨年度までの結果同様、一電子捕獲したイオンとコインシデンスしたX線強度の減少する時間が、複数の電子を捕獲したイオンとコインシデンスしたX線の強度の減少する時間よりも短い事が確認された。このX線強度の減少する時間は、X線を放出している電子の脱励起に要する時間と考えられる。実験結果は、「複数電子を捕獲した場合には、X線を放出する電子が、先に内殻まで脱励起した電子により遮蔽された核電荷を感じるために、一電子のみを捕獲した場合の脱励起時間に比べ長い寿命を持つ」と言うモデルで、定性的に説明が出来ることがわかった。このモデルはNイオンを入射した場合の実験結果をもうまく説明出来るものである。
3.Polyethylen Terephthalate薄膜にあけられたマイクロキャピラリーなどの、絶縁体にあけられたキャピラリーでイオンビームのガイド効果が起こることがわかってきているが、ガイド後の価数分布の測定を行い、金属(Ni)にあけられたキャピラリーを透過した後の価数分布とほぼ一致している事を確認した。
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