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2018 Fiscal Year Research-status Report

Study about the influence of dislocation on devices for practical application of GaN power devices

Research Project

Project/Area Number 17K17808
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

田中 敦之  名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 特任准教授 (30774286)

Project Period (FY) 2017-04-01 – 2020-03-31
KeywordsGaN / 窒化ガリウム / パワーデバイス / 転位 / ダイオード / 漏れ電流 / 通電劣化
Outline of Annual Research Achievements

今年度も引き続き逆方向電圧印加時の漏れ電流と転位の関係解明に取り組んだ。その結果、当初予想したようにpnダイオードの逆方向耐圧時の漏れ電流と各転位種に単純な関係(転位の種類さえわかれば完全に漏れる漏れないが予想できる)は無いことが分かった。以下に本年度明らかにしたことを箇条書きにて述べる。
①漏れる転位はダイオード中のpn接合付近では閉じた転位ではなく、直径40nm程度のm面を壁面として持つ中空のナノパイプとなっていることが分かった。②ただし、ナノパイプにも漏れるもの漏れないものが存在していることが分かった。③漏れるもの漏れないもの両方のナノパイプの形状等に大きな違いは見つけられなかった。またナノパイプの壁面についてTEM-EDSで不純物濃度の違いを観察したが、C,Si,O,Mg等の疑わしい不純物濃度に大きな違いがないことが分かった。④量としては大部分を占めている刃状転位及びa+c程度の小さなバーガースベクトルを持った混合転位では今のところ、ナノパイプ以上の漏れ電流は確認されていない。
現在は、ナノパイプの漏れる漏れないの違いは内壁m面への不純物の取り込まれ方の違いではないかを疑い、どのようなバリエーションがあるのかを第一原理計算を用いて解析中である。また、上記研究の過程で原因究明は完全ではないが、対処法として圧力の高い条件でエピ層成長を行うとナノパイプがほとんど生成されず、漏れるスポットが極端に少ないpnダイオードを作製できることを見出した。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

おおよそ漏れる転位がどういうものか分かってきた。まだ何故漏れているのか完全には解明できていないが、漏れる転位をどのようにすれば漏れない状態にできるかについてもわかってきたので、概ね順調に進展していると判断した。通電劣化については当初予定していた通りには行えていないが、新しい手法(多光子PL顕微鏡)を用いて当初予定していた方法よりもより明確に現象を観察できているので、順調に進展している。

Strategy for Future Research Activity

当初の計画通り、31年度は順方向通電と転位の挙動についての調査を主に行っていこうと考えている。多光子PL顕微鏡によって、基底面転位及び貫通転位は光学的刺激によっては大きな変化が起こらないことがわかっているので、これを実際のデバイス利用に近い電気的な刺激でも確認する。

  • Research Products

    (15 results)

All 2019 2018

All Journal Article (4 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (11 results) (of which Int'l Joint Research: 9 results,  Invited: 3 results)

  • [Journal Article] Vertical GaN p-n diode with deeply etched mesa and the capability of avalanche breakdown2019

    • Author(s)
      Hayata Fukushima, Shigeyoshi Usami, Masaya Ogura, Yuto Ando, Atsushi Tanaka, Manato Deki, Maki Kushimoto, Shugo Nitta, Yoshio Honda, Hiroshi Amano
    • Journal Title

      Applied Physics Express

      Volume: 12 Pages: 2

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Correlation between dislocations and leakage current of p-n diodes on a free-standing GaN substrate2018

    • Author(s)
      Shigeyoshi Usami, Yuto Ando, Atsushi Tanaka, Kentaro Nagamatsu, Manato Deki, Maki Kushimoto, Shugo Nitta, Yoshio Honda, Hiroshi Amano, Yoshihiro Sugawara, Yong-Zhao Yao, Yukari Ishikawa
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 112 Pages: 182106

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Comparing high-purity c-and m-plane GaN layers for Schottky barrier diodes Grown homoepitaxially by metalorganic vapor phase epitaxy2018

    • Author(s)
      Kentaro Nagamatsu, Yuto Ando, Zheng Ye, Osmane Barry, Atsushi Tanaka, Manato Deki, Shugo Nitta, Yoshio Honda, Markus Pristovsek, Hiroshi Amano
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 56 Pages: 105501

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] m-Plane GaN Schottky Barrier Diodes Fabricated With MOVPE Layer on Several Off-Angle m-Plane GaN Substrates2018

    • Author(s)
      Atsushi Tanaka, yuto Ando, Kentaro Nagamatsu, Manato Deki, Heajeong Cheong, Barry Ousmane, Maki Kushimoto, Shugo Nitta, Yoshio Honda, Hiroshi Amano
    • Journal Title

      Physica Status Solidi A

      Volume: 215 Pages: 1700525

  • [Presentation] Investigation of the Origin of the Leakage of P-N Diodes on a Free-Standing GaN Substrate Using the 3DAP and LACBED Methods2018

    • Author(s)
      Shigeyoshi Usami, Yoshihiro Sugawara, Yong-Zhao Yao, Yukari Ishikawa, Norihito Mayama, Kazuya Toda, Yuto Ando, Atsushi Tanaka, Kentaro Nagamatsu, Manato Deki, Maki Kushimoto, Shugo Nitta, Yoshio Honda, Hiroshi Amano
    • Organizer
      The Compound Semiconductor Week 2018
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Ammonia Decomposition and Reaction by High-Resolution Mass Spectrometry for Group III-Nitrides Epitaxial Growth2018

    • Author(s)
      Zheng Ye, Shugo Nitta, Kentaro Nagamatsu, Naoki Fujimoto, Maki Kushimoto, Manato Deki, Atsushi Tanaka, Yoshio Honda, Markus Pristovsek, Hiroshi Amano
    • Organizer
      19th International Conference on Metalorganic Vapor Phase Epitaxy
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Observation of Dislocation Propagation in GaN on GaN Structure with a Multiphoton Excitation Photoluminescence Microscope2018

    • Author(s)
      Atushi Tanaka, Kentaro Nagamatsu, Shigeyoshi Usami, Maki Kushimoto, Manato Deki, Shugo Nitta, Yoshio Honda HIroshi Amano
    • Organizer
      Internatinal Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-7
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Improvement of Electrical Stability of ALD-Al2O3/GaN interface by UV/O3 Oxidation and Postdeposition Annealing2018

    • Author(s)
      Manato Deki, Kazushi Sone, Kenta Watanabe, Fumiya Watanabe, Kentaro Nagamatsu, Atsushi Tanaka, Maki Kushimoto, Shugo Nitta, Yoshio Honda, Hiroshi Amano
    • Organizer
      Internatinal Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-7
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Schottky Barrier Diodes Fabricated on Miscut m-plane Substrates2018

    • Author(s)
      Yuto Ando, Kentaro Nagamatsu, Atsushi Tanaka, Manato Deki, Ousmane 1 Barry, Shigeyoshi Usami, Maki Kushimoto, Shugo Nitta, Yoshio Honda, and Hiroshi Amano
    • Organizer
      Internatinal Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-7
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Characterizations of high-temperature Mg ion implantation in GaN2018

    • Author(s)
      M. Takahashi, K. Sone, A. Tanaka, S. Usami, M. Deki, M. Kushimoto, K. Nagamatsu, S. Nitta, Y. Honda, and H. Amano,
    • Organizer
      Internatinal Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-7
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Vertical GaN pn diode with Avalanche capability structure2018

    • Author(s)
      Hayata Fukushima, Shigeyoshi Usami, Yuto Ando, Atsushi Tanaka, Manato Deki, Maki Kushimoto, Shugo Nitta, Yoshio Honda, and Hiroshi Amano
    • Organizer
      International Workshop on Nitride Semiconductors 2018
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Screw dislocations and nanopipe generation in a MOVPE-grown homoepitaxial layer on freestanding GaN substrates and the electrical influence on vertical p-n diodes2018

    • Author(s)
      Shigeyoshi Usami, Atsushi Tanaka, Hayata Fukushima, Yuto Ando, Manato Deki, Maki Kushimoto, Shugo Nitta, Yoshio Honda, Hiroshi Amano
    • Organizer
      International Workshop on Nitride Semiconductors 2018
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Dislocation Characterization of GaN epilayer grown for power devices2018

    • Author(s)
      Atsushi Tanaka
    • Organizer
      ACALED workshop
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 多光子PL顕微鏡による窒化ガリウム中転位の三次元観察2018

    • Author(s)
      田中敦之,永松謙太郎,久志本真希,出来真斗,新田州吾,本田善央,天野浩
    • Organizer
      第10回ナノ構造・エピタキシャル成長講演会
  • [Presentation] GaNデバイスのキラーとなる転位欠陥とその低減法2018

    • Author(s)
      田中敦之, 宇佐美茂佳, 福島颯太, 安藤悠人, 久志本真希, 出来真斗, 新田州吾, 本田善央, 天野浩
    • Organizer
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • Invited

URL: 

Published: 2019-12-27  

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