2008 Fiscal Year Final Research Report

Test cost reduction based on acceptable fault identification using high-level circuit information

Research Project

Project/Area Number	19800035
Research Category	Grant-in-Aid for Young Scientists (Start-up)
Allocation Type	Single-year Grants
Research Field	Computer system/Network
Research Institution	Hiroshima City University
Principal Investigator	YOSHIKAWA Yuki Hiroshima City University, 大学院・情報科学研究科, 助教 (50453212)
Project Period (FY)	2007 – 2008
Keywords	設計工学 / 耐故障設計 / LSIのテスト / 許容故障判定
Research Abstract	回路の機能仕様に着目した許容故障判定法を提案し, 数値計算など出力がある値(解)に収束する回路, 画像処理で用いられるMPEG回路について許容故障を確認することができた. また, 許容故障を高速に判定するアルゴリズムを提案し, ベンチマーク回路に対して最大で約2倍の高速化を確認した. さらに, 汎用のテスト生成アルゴリズムを利用した許容故障判定法の提案を行い, 商用ツールを用いた許容故障の判定を可能にした.