Studies of the electronic structure of organic/metal interfaces in relation with spin injection

2010 Fiscal Year Self-evaluation Report

• Project/Area Number: 20550015
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Research Field: Physical chemistry
• Research Institution: Kyoto University
• Principal Investigator: YOSHIDA Hiroyuki Kyoto University, 化学研究所, 助教 (00283664)
• Project Period (FY): 2008 – 2011
• Keywords: 有機半導体 / 有機・金属界面 / 電子構造 / 角度分解X線光電子分光法 / 多変量解析 / 埋もれた界面 / 分子性固体

Research Abstract

有機半導体と金属の界面電子構造と有機薄膜構造を詳細に調べ、これを有機半導体へのスピン注入効率と関連付ける。このため、以下の3つの観点から研究を推進する。
(1)有機薄膜と金属電極界面の電子構造
有機・金属界面の電子構造を光電子分光法により測定し、ホール・電子の注入効率を調べる。従来の研究手法を単純に適用するだけではなく、従来からの当該分野の本質的課題の解決をも視野に入れた研究を目指す。
(2)薄膜の結晶構造
有機薄膜の伝導性や移動度などの物理パラメータは、大きな異方性を示し結晶構造にも依存することが知られている。そこで、金属表面上に作成した有機半導体膜の構造や分子配向を調べる。薄膜構造・分子配向、さらには有機薄膜の「質」を評価する測定法の検討や開発も行う。
(3)有機・金属界面のスピン注入効率
有機薄膜と金属界面でのスピン注入効率を調べ、上記の界面電子構造・薄膜構造と関連付ける。

Research Products

• [Journal Article] The depth profile of core energy levels : Electronic structure of buried organic/metal interfaces examined by X-ray photoemission and target factor analysis
  • Author(s): 吉田弘幸、佐藤直樹
  • Journal Title: Chem.Phys.Lett. (accepted)
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Electronic structure of buried interface between organic semiconductor, N, N' -Bis (3-methylphenyl) -N, N' -dipheny lbenzidine (TPD) and metals
  • Author(s): 吉田弘幸、伊藤英輔、原正彦、佐藤直樹
  • Journal Title: J.Nanosci.Nanotech. (accepted)
  • Peer Reviewed
• [Presentation] Core-energy level difference in the surface and bulk regions of organic semiconductor films studied by X-ray photoemission spectroscopy with depth resolution (2011)
  • Author(s): 吉田弘幸、伊藤英輔、原正彦、佐藤直樹
  • Organizer: 2011 European Materials Research Society (E-MRS) spring meeting
  • Place of Presentation: ニース、フランス(口頭講演)
  • Year and Date: 2011-05-09
• [Presentation] A New Experimental Technique to Examine Electronic Structure at Buried Interface in Organic/Metal Contacts (2010)
  • Author(s): 吉田弘幸、伊藤英輔、原正彦、佐藤直樹
  • Organizer: European Conference on Surface Science (ECOSS) 27
  • Place of Presentation: ローニンゲン、オランダ(口頭講演)
  • Year and Date: 20100829-20100903
• [Presentation] 角度分解X線光電子分光法による内殻準位の深さプロファイル:有機半導体と金属の埋もれた界面の電子構造 (2010)
  • Author(s): 吉田弘幸、伊藤英輔、原正彦、佐藤直樹
  • Organizer: 第4回分子科学討論会
  • Place of Presentation: 大阪(口頭講演)
  • Year and Date: 2010-09-15
• [Presentation] 角度分解X線光電子分光法による内殻準位の深さプロファイル:有機半導体と金属の埋もれた界面の電子構造 (2010)
  • Author(s): 吉田弘幸、伊藤英輔、原正彦、佐藤直樹
  • Organizer: 第71回応用物理学会学術講演会
  • Place of Presentation: 長崎(口頭講演)
  • Year and Date: 2010-09-14
• [Presentation] A New Experimental Technique to Examine Electronic Structure at Buried Interface in Organic/Metal Contacts (2010)
  • Author(s): 吉田弘幸、伊藤英輔、原正彦、佐藤直樹
  • Organizer: International Conference on Science and Technology of Synthetic Metals 2010
  • Place of Presentation: 京都(口頭講演)
  • Year and Date: 2010-07-06
• [Remarks] ホームページ
  • URL: http://www.scl.kyoto-u.ac.jp/~yoshida/hiroyuki_yoshida/main.html